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上海站10月27日--EDA365电子硬件研讨会
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【已结束】6月29日 EDA365公开课---电子硬件研讨会 西安站

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发表于 2019-6-18 17:38 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 EDADZE365 于 2019-7-1 10:04 编辑
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一、主题:EDA365公益培训---电子硬件研讨会  西安站
       随着国民经济的迅速发展和新技术革命的掀起,电子产品广泛应用于工业、农业、国防、科研等各个领域,而且电子设备的复杂程度愈来愈高,使用的环境条件愈来愈恶劣,对电子设备的可靠性要求愈来愈高。  

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       然而,电子元器件的可靠性是电子设备可靠性的基础,要提高电子设备的可靠性除了加强可靠性设计外,首先必须提高电子元器件的可靠性。
      
      身处风险时代的我们,又如何去提高电子产品的可靠性呢?常用的电子元器件应用又有什么要求呢?
      
      相信这两位大咖的出现,足以为大家解答种种疑惑;
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       强强联手,只为更好传播电子工程技术:华为器件工程专家组主任-荣老师 + 原华为可靠性设计奠基人-戴老师
- s  X$ o$ E, s: f4 t% k/ g
       一场关于电子工程知识风暴即将刮起!!!

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二、课程名称1.《电子产品可靠性设计与评估实践》2.《器件工程知识》
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三、时间:2019年6月29日 下午13:00-17:15
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四、地点陕西西安高新二路9号西安创业咖啡街区-千人楼(蒜泥咖啡众创空间2楼)
; o7 F9 T) S; G, A, M: g/ e- _
五、报名截止时间:6月28日止

/ i! o7 Z3 P7 R, z7 q1 o+ h7 P) i
六、公开课人数:仅限60人 (需添加“陆妹”微信)) V  q$ R, Z# U- s7 A
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七、活动安排:
西安站长图123.jpg

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7 y( |. J% J( |$ m0 Z3 z/ j八.课程介绍
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1.《电子产品可靠性设计与评估实践
电子产品可靠性工程实践形成,吸收了业界行之有效的可靠性关键活动内容与方法,剔除了传统理论中的无效活动,对电子产品研发过程中的DFR特性实现具有现实的指导作用。
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(1)可靠性设计基础
可靠性解决什么问题?
度量指标与寿命问题
产品失效类别与解决措施

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(2)常用可靠性设计方法
降额与升额
限寿器件的识别与延寿
冗余与容错
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(3)可靠性评估的困境与解决方法
传统可靠性评估的困境
HALT的作用与方法
ALT和加速因子的确定
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2.《器件工程知识
近些年,中国电子产品与国外领先企业产品的差距越来越小,目前主要已经不是功能和性能的差距,主要产品工程,特别是质量和可靠性方面的差距。
所以作为电子工程师,也要深刻明白和熟悉器件工程的相关知识。

. t% t' }; u3 ]9 y& r5 i7 }
(1)研发要掌握器件可靠性基本知识及要求
(2)器件封装,温度影响,ESD,闩锁,EOS,器件上下等知识
(3)器件可靠性试验,失效分析知识
(4)常用器件选择应用要求
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邀请对象
l  器件质量工程师
l  器件可靠性工程师
l  硬件经理及企业主管
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九、报名方式:
      请小伙伴们扫描下发二维码,加为好友,备注报名参加“6月29日公开课”,名额有限,先报先得。
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往下还有更多精彩!
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6月30日 EDA365公益培训---电子硬件研讨会 深圳站
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主讲老师:华为资深硬件设计专家-何老师原华为EMC首席专家-余老师

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想了解更多  点击下图了解!

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发表于 2019-6-24 15:12 | 显示全部楼层
参加参加,离我家还挺近的,已经加微信了
发表于 2019-6-25 13:30 | 显示全部楼层
活动越来越多了 支持
发表于 2019-6-26 10:42 | 显示全部楼层
经常有这样的活动,真是给予广大电子工程师的福利!
发表于 2019-6-29 20:06 | 显示全部楼层
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