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标题: EMC CS116试验损坏12V供电CMOS输出驱动芯片 [打印本页]

作者: li205212021 时间: 2022-11-15 15:34
标题: EMC CS116试验损坏12V供电CMOS输出驱动芯片
我们是一个地面检测设备，与被测件连接电缆长度12米。原来电缆是带屏蔽层的，做CS116试验没有问题。由于实际应用环境是不带屏蔽层的，因此用不带屏蔽层的电缆做EMC，发现损坏我的CMOS驱动芯片CD4050。我的输出线上已经串了100欧姆电阻的。试验电流是5A水平，在10M频点的时候损坏器件。
请教如何整改。以前还真没有接触这个该死的CS116。谢谢！

作者: nocturne 时间: 2022-11-15 16:57
传导干扰只能通过屏蔽线缆来处理，屏蔽对处理此类问题是最有效的，考虑在线两端增加隔离试一下

作者: purpose_857 时间: 2022-11-15 17:11
看你的整改方案应该有效，主要是前期的干扰时什么原因导致的要查清楚，是外面的干扰，还是其它原因。

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