找回密码
 注册
10月份电巢直播计划
查看: 67|回复: 2

[毕业设计] 3D芯片绑定中测试绑定次序对成本的影响

[复制链接]

该用户从未签到

发表于 2021-9-29 10:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
3D芯片绑定中测试绑定次序对成本的影响

6 ?/ k- W' \  b摘要:针对3D SICs(3D Stacked Integrated Circuits ,三维堆叠集成电路)在多次绑定影响下的成本估算问题,现有的方法忽略了实际中经常发生的丢弃成本,从而使得理论的测试技术不能很好的应用于实际生产.本文根据绑定中测试的特点,提出了一种协同考虑绑定成功率与丢弃成本的3D SICs理论总成本模型.基于该模型,提出了一种3DSICs最优绑定次序的搜索算法.最后,进一步提出了减少绑定中测试次数的方法,实现了“多次绑定、一次测试”,改进了传统绑定中测试“一绑一测”的方式.实验结果表明,本文提出的成本模型更贴近于实际生产现状,最优绑定次序、最优绑定中测试次数可以更加有效指导3D芯片的制造.( s) \6 n# E) ~/ I* f5 z
关键词:丢弃成本;成本模型;绑定次序;绑定中测试;测试次数优化7 p& M/ g" Z  c6 c+ C

4 p) P$ {) J" b: F
游客,如果您要查看本帖隐藏内容请回复
2 B7 A$ m; Q3 q
7 f% e9 s5 c8 y  |6 U# T

该用户从未签到

发表于 2021-9-29 11:30 | 显示全部楼层
什么是绑定次序

该用户从未签到

发表于 2021-9-29 13:34 | 显示全部楼层
3D芯片绑定中测试绑定次序对成本的影响
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号 )

GMT+8, 2021-10-26 06:53 , Processed in 0.062500 second(s), 26 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19925233282

快速回复 返回顶部 返回列表