一周往事1506

0aijiuaile

版主，请教下：“但现实问题有2，一是如何得知测试通道break channel的性能，二是如何去除芯片封装的影响”
- y% Q; p3 g2 W% y& o8 Z; `这边break channel是指的什么啊？另外，你是如何去除SMA处阻抗突变的影响？　感谢。
) F( {9 t! ], X( [6 O$ u$ X

stupid

0aijiuaile 发表于 2015-4-15 21:31
" |" W1 R* o# k7 T1 e- d% W5 U版主，请教下：“但现实问题有2，一是如何得知测试通道break channel的性能，二是如何去除芯片封装的影响” ...

break channel是一个术语，指从BGA扇出到SMA的这一段链路。
" \5 Q$ k& ^: H# W9 m' Z; ZSMA的阻抗，对于这种测试板来说，我们可以控制到+/-2欧，回损可以在15GHz以内做到-20dB，带内的阻抗影响可以忽略。

0aijiuaile

stupid 发表于 2015-4-16 10:16
- }5 e% N* R3 J8 d3 }1 O+ Bbreak channel是一个术语，指从BGA扇出到SMA的这一段链路。
SMA的阻抗，对于这种测试板来说，我们可以控 ...

, @# @$ [4 ^3 r. w' Q谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

stupid

0aijiuaile 发表于 2015-4-16 14:34
谢谢斑竹热心,我还有个疑问,你们为何没有用TRL来校准测量芯片性能,这种方法是不是更精准啊?

  }  a' {" R/ B# L! T4 @$ ]这一段是开路，TRL不适用，只能用AFR去反推。

qingdalj

/ ^3 [& G, H+ e7 ?! }& d
0 r7 K/ q" n; K0 m3 j, Y& X罗辑思维很不错，罗胖讲的很多都发人深省；崇拜楼主各种通，很多名词都没听过，惭愧