如果通过测到的s参数 反推出介电常数？

mengzhuhao

有好的工具或者方法吗，比较容易实现的

cousins

好难...似乎介电常数不一样也可以有近似的s参数的。
" `3 v/ i  \& u$ x; m

qingdalj

赞同楼上说法，一样的阻抗可以有不同的结构，不同的介电常数可以实现一样的阻抗；不过，楼主可以测S参数，那你有没有PCB结构，固定的结构就可以根据阻抗推算节点常数，仅供参考

doya

通过S参数的相位延时，可以计算介电常数。Keysight不是有专门的计算方法吗？需要购买。

zhiqin

应该是通过相位来求的

cousins

doya 发表于 2015-4-28 11:25
% |! ~0 [& b1 E3 {; }通过S参数的相位延时，可以计算介电常数。Keysight不是有专门的计算方法吗？需要购买。

" `0 r* W6 e7 E1 U: H8 a5 c, |1 ?这个很有意思，很好奇怎么算的.
我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式，没有任何结构参数如何得到介电常数。
我是没用过这个工具啦，但我猜肯定是需要定义结构参数的，不然没法反推介电常数.

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doya

cousins 发表于 2015-5-6 09:30
, V, |" k' _$ n: u7 j这个很有意思，很好奇怎么算的.
" @. V: P+ ~4 Z) u我有一个疑问就是,单纯的S参数为矩阵形式，没有任何结构参数如何得到介 ...

一个S参数算不了，需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算，以及长度差（当然这两条线的物理结构测试环境都要相同，不需要知道具体的线宽、铜厚这些信息）；两个S参数可以得到相位差，就可以换算得到介电常数啊。

cousins

doya 发表于 2015-5-6 11:14
一个S参数算不了，需要一个板上两个不同长度的传输线的两个S参数可以计算，以及长度差（当然这两条线的物 ...

你说两个不同长度相同结构的可以算那我觉得可行，因为相当于多了一组方程式，可以推导出来。

l888888h

另一根线的长度不能为0？

阿笨

上面有人提到用测试的时延来推导常数，其实这个办法本身就存在很多的限制，其中最直接的一个问题就是你如何得到一个比较线性的相位值。很多因素都会造成插损的相位失真，一个回损过大就可能插损的相位的扭曲，而且要记住这个是用两段不同长度的传输线相减是不可能消除的。

虽然S参数里的某些参数虽然可以相加减可以得到近似的结果，但是S参数毕竟是一个矩阵，不是简单的标量运算那么简单，想用这种方法得到时延差则对你的DUT特性要求极高，也许校准可能是个比较好的选择。

doya

测试线长度的选取，线宽及角度的设计，或是测试SMA的设计都很重要，换言之测试所得的S参数的质量要求比较高，并不是随意两组测试的S参数都可以，甚至要做很多组测试线再挑选。
2 ^* q6 @$ _% J( u. t# i- R不过楼上所说的比较线性的相位值我比较有疑问，据我的经验，哪怕回损过大插损的相位也是很线性的。但失真倒是有可能的，由于编织布以及绕线等因素可以直接影响到相位失真，但这是可以设计中规避的。
; b# M  z, ~0 p2 _& X. s) u并且所得的Dk\Df，还需要使用TRL校准进行反向验证，这很重要。

阿笨

doya 发表于 2015-6-3 10:41
, K% A) V* J3 D0 I测试线长度的选取，线宽及角度的设计，或是测试SMA的设计都很重要，换言之测试所得的S参数的质量要求比较高 ...

- K2 D0 @3 ~) [你可以自己再找一个烂一些的板子试试
6 v3 _2 m6 Z8 m7 g2 [' b$ b

rocksyh

好帖，过来学习一下！！