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tDS&tDH base 的选择问题

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1#
发表于 2015-7-15 22:05 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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tDS&tDH base 的选择跟一个指标ACXXXmV,例如AC175,AC150,AC135,
. H4 l/ s8 t1 f! j( J. y这些指标如何选择?
, D3 C( @6 F' J3 d& p0 B有问过做内存的厂商,他说一般取AC175,具体也不知道为什么- v4 T% c* Y4 v& S

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2#
发表于 2015-7-15 23:03 | 只看该作者
我也想知道

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3#
发表于 2015-7-16 00:18 | 只看该作者
AC175的要求是最严格的,如果能过,那么就没有任何问题

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4#
发表于 2015-7-16 08:50 | 只看该作者
依照带宽来选择,若你不跑颗粒的最高带宽不需要那么高的要求。参考规格书。

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5#
发表于 2015-7-17 11:47 | 只看该作者
以下所述,参考参考...
; m/ @. v3 ?. x* g& [( S5 {' G根据经验,参考规格书。
" m4 G2 i; P, E1 G# Y这里所述之规格书是按照作动方式(向)而定。  W% _$ }* l# F4 [% D$ U
例如Data-Bus/Write时,讯号由控制晶片传到DRAM端,此时按照DRAM的规格
2 w! I  M& b$ K% S并决定AC/DC levels。如此,计算接收情况是否符合规格(软体会计算tDS/tDH馀裕)。
* q- P# `  @5 P# }! ^1 n反之亦然,在Read时,计算接收端(控制晶片)的接收情况,使用控制晶片接收时的规格
0 [% W0 p* P8 U7 E' d2 q(tDS/tDH)。& j) E7 A/ c5 W0 \/ _, w2 w+ @
只是,在一般状况下,厂商通常回覆按照Jedec规格,所以,Write/Read的tDS/tDH就变成一样了。' V6 I7 V; F6 A1 y# R; L
所以,问清楚所使用的规格来设计与仿真,过与不过,皆有一定的准则判断。

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6#
发表于 2015-9-7 22:38 | 只看该作者
这个和眼图测量有关
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