找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
楼主: edqin
打印 上一主题 下一主题

上传两幅数码相框的EMI测试数据大家来讨论一下应该从哪些方面来整改

    [复制链接]

该用户从未签到

31#
发表于 2009-9-13 10:09 | 只看该作者
我想请问大哥 1 B+ Q+ x7 ]/ u
频段波形,曾base状?. v0 x! M+ V5 O% @7 W
你怎样能分析是GND, power ,还是data ,clk noise 引起的?

该用户从未签到

32#
发表于 2009-9-13 18:45 | 只看该作者
1 樓與 11 樓的測試數據差很多,看來又是不同實驗室的報告,是同一片板子嗎?: W) X3 Z" Q, C1 P: P
只有做了 11 樓的對策,就有這麼好的結果,真是高手。

该用户从未签到

33#
发表于 2009-9-13 18:53 | 只看该作者
况且一般电源的干扰都集中在100MHZ之前,所以先测试DC线的干扰。至于干扰的起因主要是机器内部的DC TO DC。
+ d% m5 `3 V4 _7 v. G3 g' A; ~8 _  G$ I! o/ H7 Q
==> 請問你對 DC to DC 做了什麼處理?

该用户从未签到

34#
发表于 2009-9-15 09:17 | 只看该作者
你的clock有沒有展頻,若是沒有,請找展頻ic的廠商來幫忙!
. ]7 g6 \% C4 {5 D  Q6 T你的資料是power noise 和clk 的issue,要一層一層的解

该用户从未签到

35#
发表于 2010-2-3 14:12 | 只看该作者
我估计真正起作用的是 利用屏幕的金属 其余的串磁珠啊 估计没啥效果

该用户从未签到

36#
发表于 2010-2-26 10:13 | 只看该作者
EMI的解决通常跟量产性有很大关系
# H6 {- W1 P0 X6 @$ }3 ]如果只是为了过证还是不难
+ c$ B& f& d, D5 r% Q3 D6 z最好看EMI频点在板上的分布
5 ]7 F8 S, m1 @( T这样针对性更强些
+ t/ E' ?7 V# o7 n在时钟线上串电阻这种事我都做过呵呵
7 T6 L7 p7 [: z+ M有时确实是一种办法
. u0 V) C2 Z+ \但不是量产的办法
4 j4 z1 Y0 _$ W/ g- @5 r( l* e有时候电阻比磁珠效果还好些(实验中得来)
* t2 h; b+ C/ c7 i不知道是不是磁珠的品质问题1 x/ t/ L! p- ?! e, B
数码框我估计8 R+ W' ?$ S+ D# D
如果用的是TFT的接口辐射一般都很大8 Y9 ^, [7 L. \6 u* e! h) B
特别FPC做得不好的时候
  • TA的每日心情
    开心
    2020-5-24 15:59
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    37#
    发表于 2010-3-8 14:11 | 只看该作者
    从可靠性的基础上来说,时钟加那么大的磁珠是有问题的!且电源加1500的磁珠??低温实验有没有做过??

    该用户从未签到

    38#
    发表于 2010-3-30 17:03 | 只看该作者
    回复 37# tony_wuy
    ; b5 k  ]2 }& r8 f/ _- C顶下37楼的!这样整改可能会有隐患

    该用户从未签到

    39#
    发表于 2010-4-3 08:42 | 只看该作者
    3.对于单点在SDRAM时钟加220欧姆磁珠,读卡器时钟加600欧姆磁珠,屏时钟加330欧磁珠。) F' P4 V. x1 `; v  N8 O5 {8 R
    -----------------------------时钟线一般不建议加磁珠,磁珠的一致性较差,大批量生产可能会出问题的(除非是只想拿证书在样品上加),要慎重,特别是要测量添加后时钟衰减;时钟线一般是用加电阻,但对阻值有严格的限定。

    该用户从未签到

    40#
    发表于 2010-8-2 14:21 | 只看该作者
    学习了!

    该用户从未签到

    41#
    发表于 2010-8-3 09:54 | 只看该作者
    樓主加這麼大的bead,有沒有對信號進行測試?系統工作是否正常?' I5 I; |; G% ~, p9 [7 t+ [* d5 q6 ~

    1 M$ p+ W" Y3 `, ~" X9 T1 b, s還有高手們還沒回答,是怎麼換算出頻率對應的電容值?
    9 D. E/ Q4 y+ s( _
    ' @9 r9 f  Z# M, N& k* s2 E請教了!

    该用户从未签到

    42#
    发表于 2011-1-27 09:46 | 只看该作者
    受教。谢谢

    该用户从未签到

    43#
    发表于 2011-2-8 22:56 | 只看该作者
    同一条件下测试结果比较才有意义的
    4 v: p% s/ E$ m5 V) w+ G; z7 iEMC测试我已经怕了

    该用户从未签到

    44#
    发表于 2011-3-18 22:23 | 只看该作者
    学习,太高深了

    该用户从未签到

    45#
    发表于 2011-3-22 15:50 | 只看该作者
    看得头都晕了
    您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

    本版积分规则

    关闭

    推荐内容上一条 /1 下一条

    EDA365公众号

    关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

    GMT+8, 2025-8-23 17:55 , Processed in 0.109375 second(s), 19 queries , Gzip On.

    深圳市墨知创新科技有限公司

    地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

    快速回复 返回顶部 返回列表