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开关频率的提高受限于哪些因素
4 G& O W7 D) K: f) b开关电源产品日趋要求小型、轻量、高效率、低辐射、低成本等特点,增大开关电源产品的功率密度,可以通过提高其工作频率来实现,但高频化产品会产生一系列工程问题,从而限制了开关频率的提升。! N% R' W- q& }% z- H' N
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开关电源产品在市场的应用主导下,日趋要求小型、轻量、高效率、低辐射、低成本等特点满足各种电子终端设备,为了满足现在电子终端设备的便携式,必须使开关电源体积小、重量轻的特点,因此,提高开关电源的工作频率,成为设计者越来越关注的问题,然而制约开关电源频率提升的因素是什么呢?$ c! ~) \0 e& ~+ e' @& g' L
, A# O+ D- J; M) _: R" k2 C$ f6 b一、开关频率的提高,功率器件的损耗增大
3 t/ ~ h. o3 ?1、开关管限制开关频率的因素有哪些?
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2 ^; p4 Q$ |. s4 v, |9 }a、开关速度
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+ t* t/ Q" x9 ^( Q( a; t$ ^0 D0 wMOS管的损耗由开关损耗和驱动损耗组成,如图1所示:开通延迟时间td(on)、上升时间tr、关断延迟时间td(off)、下降时间tf。
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图1
5 a5 u; I3 x# A' X4 p6 T以FAIRCHILD公司的MOS为例,如表1所示:FDD8880开关时间特性表。
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2 o. w4 G4 }) L0 [( ~* s+ d! e( A表1# E+ g- j( W1 Y) m, b( x6 P
对于这个MOS管,它的极限开关频率为:fs= 1/(td(on)+ tr+ td(off)+ tf) Hz=1/(8ns+91ns+38ns+32ns) =5.9MHz,在实际设计中,由于控制开关占空比实现调压,所以开关管的导通与截止不可能瞬间完成,即开关的实际极限开关频率远小于5.9MHz,所以开关管本身的开关速度限制了开关频率提高。/ o; w/ s# z# m: @# ~. O6 d0 ~
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b、开关损耗$ t/ l5 O* Z% v+ u8 b! V
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开关导通时对应的波形图如图2(A),开关截止时对应的波形图如图2(B),可以看到开关管每次导通、截止时开关管VDS电压和流过开关管的电流ID存在交叠的时间(图中黄色阴影位置),从而造成损耗P1,那么在开关频率fs工作状态下总损耗PS= P1 *fs,即开关频率提高时,开关导通与截止的次数越多,损耗也越大。
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图2
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总结:开关速度、开关损耗是限制开关频率的两个因素。
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1、变压器的铁损限制了频率的提高& k3 _" J' X$ ?8 ]$ b
变压器的铁损主要由变压器涡流损耗产生,如图3所示,给线圈加载高频电流时,在导体内和导体外产生了变化的磁场垂直于电流方向(图中1→2→3和4→5→6)。根据电磁感应定律,变化的磁场会在导体内部产生感应电动势,此电动势在导体内整个长度方向(L面和N面)产生涡流(a→b→c→a和d→e→f→d),则主电流和涡流在导体表面加强,电流趋于表面,那么,导线的有效交流截面积减少,导致导体交流电阻(涡流损耗系数)增大,损耗加大。8 d" w, I0 c; \9 E1 X- r ~ C
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图3
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如图4所示,变压器铁损是和开关频率的kf次方成正比,又与磁性温度的限制有关,所以随着开关频率的提高,高频电流在线圈中流通产生严重的高频效应,从而降低了变压器的转换效率,导致变压器温升高,从而限制开关频率提高。
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, P3 o6 j) t# U, l3 K# b6 R图4
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二、开关频率的提高,EMI设计、PCB布局难度增大6 L! Y8 F0 }9 a) v, ^+ B
假设上述的功率器件损耗解决了,真正做到高频还需要解决一系列工程问题,因为在高频下,电感已经不是我们熟悉的电感,电容也不是我们已知的电容了,所有的寄生参数都会产生相应的寄生效应,严重影响电源的性能,如变压器原副边的寄生电容、变压器漏感,PCB布线间的寄生电感和寄生电容,会造成一系列电压电流波形振荡和EMI问题,同时对开关管的电压应力也是一个考验。
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+ V. d/ T6 j% { v要提高开关电源产品的功率密度,首先考虑的是提高其开关频率,能有效减小变压器、滤波电感、电容的体积,但面临的是由开关频率引起的损耗,而导致温升散热设计难,频率的提高也会导致驱动、EMI等一系列工程问题。
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