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本帖最后由 jacky401 于 2019-12-4 09:27 编辑 & M2 m! T: _, }+ \, w! w g8 T2 B" [8 J
6 R; C0 {1 s/ f2 U1 m/ d6 x目录
, W% b4 I n# x j3 W# C" a+ ~4 D% v1、射频单板ICT DFT设计
0 @; P" z7 W7 i 1.1、射频单板ICT测试点设计规则
7 a' [- n9 y: e1 Q3 r! i7 V+ j 1.2、射频器件ICT DFT设计规则
. r3 f9 @, U0 W# H6 _3 A! {2、射频单板、模块FT DFT设计6 `% N7 g7 v6 u' V3 b+ { A
2.1、射频单板连接器归一化; u1 ]! @% e# i1 e% d, V/ z3 C' B
2.2、射频单板外接电源插座归一化" F6 \7 v* A {) T _
2.3、天馈系统驻波检测设计
; c, h9 E0 @0 I* e, W 2.4、射频模块对外接口设计
# N2 K1 u3 }( n 2.5、双工器可测试性设计; V. [8 V7 ^: f J; C6 w6 M4 O
2.6、功放模块可测试性设计 M- |$ O3 K |: R4 _7 B
2.7、低噪放可测试性设计
( B5 V: }- P8 h& a) O- v1 A8 W/ a 2.8、模块可测试性设计
" z8 ^- W4 x& o( ?0 G
$ I+ h% R Z( f2 N# j& I# O2 ~( ?" s& e- v0 U7 o4 \; Y* M' b+ c' L
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