TA的每日心情 | 慵懒
2020-8-28 15:16 |
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摘[size=8.83019pt]要： [size=8.83019pt]针对微波设备表面电磁泄漏位置的检测方法进行研究，根据其表面等效辐射源形式的不同，设计了不
' [# A. E& [" [- q* I2 |同的检测方法，并提出了相应的实验测试方案．其中，综合孔径被动辐射计成像的方法适用于表面等效辐射源为非相
E0 Z' k) u; n7 n6 S干源的情况；数字透镜相移成像的方法适用于表面等效辐射源为相干源的情况；物理透镜成像的方法适用于表面等效
7 |2 M6 T! u6 e1 s辐射源为非相干源、相干源和部分相干源的全部三种情况． 7 \* s# S% o+ i; N B6 U3 ^
关键词： 电磁泄漏；微波设备；成像；综合孔径；数字透镜；物理透镜
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随着航天技术及信息技术的发展，航天器所携带的
0 j6 a/ t& O& d" Z" ~# c# A. k微波设备日趋复杂，其链路中的微波信号会通过线缆耦
# a7 V! Q% i4 h3 b- v [/ f8 T合、接头泄漏或天线旁瓣等途径辐射到外界空间中去． # t {/ Q: w: ~
航天器系统为了抑制这类辐射，会采用壳体将各种设备 # r6 X* ^2 W8 }5 {
封闭起来．然而为了安装星表设备或保障星体内外设 3 F6 T8 Y; H" X: M( F
备，总会在这些壳体上切割一些小孔作为安装孔及线缆 0 {* ?/ V1 s! Y3 ~" A, I6 S& m0 Q
进出的路径．由于这些小孔的存在，使得微波设备表面 1 J, w: ]4 h- j3 T1 O- F
壳体的电磁屏蔽特性受到破坏，造成设备内部的电磁信 3 N x" k: X' A3 ?$ d8 B5 U, d
号泄漏出去，对周围电磁设备形成干扰，从而引起电磁 0 w9 L, |0 e6 n$ N
兼容性问题．因此需要在航天器出厂前对其所携带微波
; f- s# ~0 D# H3 @7 A设备的电磁辐射情况进行了解，检测其电磁泄漏情况，
3 g* o& y1 R/ p3 X, V! `% t2 u并能够对造成电磁泄漏的小孔进行定位，从而采取相应 ; P' c/ D! X/ T3 c! J: `: F
的改进措施．7 L4 x3 @, f7 C7 F
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发表于 2021-3-9 10:41
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