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[Ansys仿真] 使用Ansoft designer如何快速进行标准化测量?

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  • TA的每日心情
    擦汗
    2020-1-14 15:59
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2012-6-18 20:37 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
    本帖最后由 mengzhuhao 于 2012-6-19 08:24 编辑 ( m$ E% P6 Y; {2 w- L. Q# z6 [; G

      i) @! P- g  e, o: {3 b使用Ansoft designer如何快速进行标准化测量?5 y+ S+ v4 x: t0 e
    ' W" y! S/ J" j: V( y

    3 m' {" c0 w: O6 K# n
      M$ F+ J& q* G, \9 q3 f例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等,读写时序的逻辑控制
    ( O# }! m* R8 e
    % L0 {" d. M9 y! X5 h+ o  }) n

    : i  f2 N- l. t, ]; A如果通过编程的方法实现自动化测量,有熟悉的朋友么?
    / z, L9 k& C/ R2 \/ g, h6 ]9 l3 X, v# A  j* @) ]% U' m! L
    9 u8 ?$ \6 F  l3 m& T5 u
    ! q/ c8 v* `  G8 j; V' n. t3 a
    有那些思路、方法与例子呢?7 Y& c" q6 i6 P' ^

    该用户从未签到

    2#
    发表于 2012-7-6 17:15 | 只看该作者
    參考
    . B" _. x3 A  S& a5 ehttp://home.educities.edu.tw/oldfriend/SIwave/compare_APDS_wi_SIwizard.htm, ^: G$ s3 F2 q: G$ L" w
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