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[ADS仿真] 使用ADS如何快速进行标准化测量?

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    2020-1-14 15:59
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2012-6-18 20:38 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    使用ADS如何快速进行标准化测量?+ U2 B. J6 @$ O* X! S( z3 ~/ D3 ]
    % E3 P2 k" O$ z& v* _, f; j
    / J: }% o' ^+ h8 C' p$ N" H& A# P
    / i, p& h3 V, m: Q  e! ^
    例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等,读写时序的逻辑控制% \) I+ M, e, A

    , X) \+ ^; G5 C2 q9 y) S% A- M8 A# M. l* e! _8 k
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    如果通过编程的方法实现自动化测量,有熟悉的朋友么?
    5 |+ E  ]& h* P/ z0 ~
    + ~, ?+ z- y* X9 L& y
    7 i; ~  F7 p3 V% T
    * D' x: [* `* }: D: Q* B有那些思路、方法与例子呢?( w- r0 C+ l' v2 E* T) {
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    [LV.1]初来乍到

    2#
     楼主| 发表于 2012-6-19 10:27 | 只看该作者
    搜了ads的help 里面有ddr2/3的kit,不过目前还不太会用 有熟悉的朋友吗
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