掉电测试时Flash ROM中的ME数据丢失原因求助大佬！

超級狗

超級狗 发表于 2024-12-30 13:10
* H& ^' f! y  a; O& ~  c賽普瑞斯（Cypress）的方案

: U4 n% B9 w' R" S( d$ j瞎密！EOL 了。

超級狗

超級狗 发表于 2024-12-30 13:14
) A/ l: g% }8 q5 o  j* |瞎密！EOL 了。

9 k, N$ B4 e) e( L小芯片（Microchip）有同樣功能的產品叫 Serial EERAM ！
1 H' v) v4 D( o5 R1 D: b5 ^; P
  Q1 @. {% Q, Q3 H/ U, L: |2 wSerial EERAM | Microchip Technology

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  g: i3 E  f* z- {: f8 |

guchenglihua

这种供电方式是非常不合理的，你还费尽心思去验证一个不合理的供电电源，还不如想想如果去设计一个个合理的电源切换电路。flash电压不对去读写特别是写是很容易出问题的，具体你精确到单个存储单元的工作原理就知道原因了。

killer00

QSPI