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不同功放参数对比测试条件设定的疑问

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1#
发表于 2013-7-10 18:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
在固定的电源供电电压和负载下,根据Vout=Vin * Av,当在不同的Av下得到相同的Vout,测量对应的功放SNR、THD+N、频率响应、不平衡度、分离度等参数是不同的。
  [( g  L2 r# ?, e0 S' ]' `在对比测试两个不同的功放,为了尽量保持测试条件的一致性和对比的有效性。我们应该选取固定的Av还是固定的Vin作为参考呢?
- j+ G1 w& \" T! N0 Y6 Y4 j希望大家给点建议,谢谢!
2 b, A0 D4 B! m/ p* p8 c! b
6 R$ X3 l! O5 a; l' H2 q此外,从TI的芯片数据手册中看到如下测试数据。) L$ R% w! K8 B8 P- N
这里的Av和Vin一般是什么样的条件呢,数据手册中没看到对应的说明。

QQ截图20130710181857.png (31.52 KB, 下载次数: 2)

QQ截图20130710181857.png

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2#
发表于 2013-7-10 23:20 | 只看该作者
先解決第二個問題!
7 k% P5 R# P. H) f$ |7 T" g
$ b4 ^6 ~+ d6 L& f6 m6 ^6 _Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit1 ~' e/ h, C& h
% y' K# S& g( q' s/ @( j+ t
也是踢哀(TI)的技術文件講的!! U% \1 E$ [# F% P' m. t& e4 s1 k- P

* C$ T, S2 R( |1 E' s+ `% t. U, Q6 E2 c2 A4 u! _, ]
- p' h3 b6 T" O4 L) B4 X5 W

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg (91.34 KB, 下载次数: 11)

Operational Amplifier Noise Density Test Circuit.jpg

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3#
 楼主| 发表于 2013-7-11 09:00 | 只看该作者
超級狗 发表于 2013-7-10 23:20
- I' B( Z$ N0 ^: i/ ^7 c* m+ E先解決第二個問題!4 _0 U2 l  r: Y
3 B$ i1 c8 g6 V, K
Operatinal Amplifier Noise Density Test Circuit

6 |5 g: }" Q( P; v你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说{:soso_e113:}

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4#
发表于 2013-7-11 17:12 | 只看该作者
OrangeJD 发表于 2013-7-11 09:00
3 z* c& v8 |7 [6 X& O. I/ l) v% H8 W你说的是Av=1的意思么?愚钝,望明说

0 A/ L4 t3 F' b' m4 j% s您只是愚鈍,小弟是愚蠢!
' W6 o' r. n' R! e+ d4 p
  i8 y; n- a7 [+ n3 T* P{:soso_e127:}
1 a  q# @+ N: c' d; b2 ^' C7 x, B: {4 \: t# Y  K
運放的雜訊會隨增益(Gain)一起被放大,很多運放的特性都是設定在 Av = 1(Unity Gain)下的表現。
4 h! m& B" W3 V( v6 y
8 M; N3 ]: E( O' f1 L$ {% a; Y0 |! f如果兩個放大器要做比較,觀念上來說應該先固定增益,然後改變輸入大小來觀察輸出差異。. D* c0 G4 z7 v2 }7 W2 t8 r/ J

, x" u4 e: a& G/ l# f! K{:soso_e172:}

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5#
 楼主| 发表于 2013-7-11 18:47 | 只看该作者
多谢大神指教

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6#
发表于 2013-7-17 15:48 | 只看该作者
有学习了一招
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