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下面提供美国军方的一个失效率表:
4 w' @5 d/ F$ ~- H" r/ ~ 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
4 Y7 f8 O' l3 w& n: { 4 `: g2 w1 z, ?4 C. o
部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
( o4 V, m% K7 ?- J, [2 ~ 1.电容器 ................. 0.02 6 O5 T! c+ n X& g" l Z6 C
2.连接器接点 ............. 0.005
) \* u9 ]( N% s, m 3.二极管 ................. 0.013
& S7 k4 n' `: n" P* V' q! A% c 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
* W: v" O( J' ^8 s9 ]6 A: } 5.石英晶体 ............... 0.05 / u, w; r: G1 j p3 f8 j
6.电阻 ................... 0.002 / h) `, K& |5 O; H ^$ H2 R
7.焊点 ................... 0.0002
3 j6 [3 p; |. D$ S2 Q4 Q 8.变压器 ................. 0.5
% k* n8 Z) D5 w* c& M2 C 9.晶体 ................... 0.04 # c8 h3 H9 k* X6 W; }& X
10.可变 ................... 0.01 ; y# a* Q$ b: L8 l4 y% t" \
11.绕线接点 ............... 0.00002 ------------! ' Y- ^2 v$ `7 z7 m" I
2 w' v0 u: F) B+ x
平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。 4 q/ v/ X' t4 a3 ^
当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
+ G0 a* h. e& T 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。 |
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发表于 2009-2-15 21:47
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