PCB走线不同位置的波形

Ferrya

PCB走线不同位置的波形

一、测试仪器

12GHz带宽示波器

二、T卡CLK测试

1、T卡CLK原理图

图1 T卡clk原理图

测试点A——电阻靠近BB侧

测试点B——电阻远离BB侧

测试点C——卡罩内靠近T卡弹片的外延金属

2、A、B、C点CLK波形

图2 测试点A的CLK波形

图3 测试点B的CLK波形

图4 测试点C的CLK波形

结论：由上面三个点的波形可以看出，不同的点测到的波形差异很大，测试点C的波形最接近芯片内部PIN脚的波形，然而C点与芯片内部PIN脚之间还间隔了金属弹片，仍然不是芯片内部接收到的真实波形。

三、camera MIPI 测试

1、camera MIPI 原理图

图5 cameraMIPI 原理图

测试点A——靠近camera BTB座的测试点

测试点B——靠近MIPI开关的测试点

测试点C——靠近BB的测试点

2、A、B、C点MIPI DATA、CLK波形

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图6 测试点A的MIPI DATA波形（上图）、CLK波形（下图）

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图7 测试点B的MIPI DATA波形（上图）、CLK波形（下图）

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图8 测试点C的MIPI DATA波形（上图）、CLK波形（下图）

结论：camer MIPI DATA、CLK通路上不同点的波形与T卡CLK波形很类似，靠近接收端的波形往往更圆滑。

四、总结

         在信号的传输通路上，如果有串联元件、过孔等等阻抗突变点，一定要尽量将测试点靠近接收端。

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ygcgsa

很不错的东东