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开关电源关键器件的热设计
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电源模块发热问题会严重危害模块的可靠性,使产品的失效率将呈指数规律增加,电源模块发热严重怎么办?本文从模块的热设计角度出发,介绍各类低温升、高可靠性的电源设计及应用解决方案。
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( P8 s; R/ H _# b" e5 p& a1 R5 ^高温对功率密度高的电源模块的可靠性影响极其大,高温会导致电解电容的寿命降低、变压器漆包线的绝缘特性降低、晶体管损坏、材料热老化、低熔点焊缝开裂、焊点脱落、器件之间的机械应力增大等现象。有统计资料表明,电子元件温度每升高2℃,可靠性下降10%。/ w; o% p6 q" ^5 ?3 W- g
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一、关键器件的损耗; E* ?* f8 f; G) z/ p% s0 I
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表 1是开关电源关键器件的热损耗根源,了解器件发热原因,为散热设计提供理论基础,能快速定位设计方案。
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表 1 主要元器件损耗根源0 m9 H( }: E/ _3 M4 P/ N2 J1 t6 v
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, k% o. X- t$ T- h- U二、开关电源热设计
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从上表了解关键发热器件和发热的原因后,可以从以下两方面入手:: C) `. b& f. h9 L
! l# F9 ?+ \/ c ^' f1、从电路结构、器件上减少损耗。 `# \( g3 b8 u: M; Q7 v" }
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如采用更优的控制方式和技术、高频软开关技术、移相控制技术、同步整流技术等,另外就是选用低功耗的器件,减少发热器件的数目,加大加粗印制线的宽度,提高电源的效率。
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a.方案选择优化热设计* k( N# B. [! n4 a
$ F1 m: q, G/ B: l; J图 1是同一个产品的热效果图,图 1 中的A图采用软驱动技术方案,图 1 中的B图采用直接驱动技术方案,输入输出条件一样,工作30分钟后测试两个产品的关键器件温度,如表 2所示, A图关键器件MOS的温度降幅是B图的32%,关键器件温度降低同时,提高了产品的可靠性,e所以采用高频软开关技术或者软驱动技术,能大幅度降低关键器件的表面温度。
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图 1 采用不同驱动方案后的热效果图
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8 k2 i+ o2 e: f! }# k% u: c& m6 I% K表 2 主要元器件损耗根源- }$ r* h+ x: x1 r9 @7 e) S q, i
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: T/ Z, ~9 B! F/ A {1 z8 V" qb.器件选择优化热设计
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器件的选择不仅需要考虑电应力,还要考虑热应力,并留有一定降额余量。图2为一些元件降额曲线,随着表面温度增加,其额定功率会有所降低。 p+ w4 I/ ~: p2 O8 }$ J t
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( j. C& ]3 D* @ I4 x3 k; N图2 降额曲线 $ c( K) F) i3 W9 X2 g& O* C
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元器件的封装对器件的温升有很大的影响。如由于工艺的差异,DFN封装的MOS管比DPAK(TO252)封装的MOS管更容易散热。前者在同样的损耗条件下,温升会比较小。一般封装越大的电 阻,其额定功率也会越大,在同样的损耗的条件下,表面温升会比较小。
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有时电路参数和性能看似正常,但实际上隐藏很大的问题。如图3所示,某电路基本性能没有问题,但在常温下,用红外热成像仪一测, MOS管的驱动电阻表面温度居然达到95.2℃。长期工作或高温环境下,极易出现电阻烧坏、模块损坏的问题。通过调整电路参数,降低电阻的欧姆热损耗,且将电阻封装由0603改成0805,大大降低了表面温度。" g9 d8 G! X, W0 d$ h) ~
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/ _8 I* _2 ~' k% p* }图3驱动电阻表面温度 # U3 m, P4 `! V4 X) Q4 t7 b
R! h- |" I7 C3 M! f; i* p: hc.PCB设计优化热设计
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$ i9 Z, }# i, k$ {- H( D- p% yPCB的铜皮面积、铜皮厚度、板材材质、PCB层数都影响到模块散热。常用板材FR4(环氧树脂)是很好的导热材料,PCB上元器件的热量可以通过PCB散热。特殊应用情况下,也有采用铝基板或陶瓷基板等热阻更小的板材。0 d1 r- D- S; _' s; w; E( d
2 t8 o' N o3 U3 q2 p( tPCB的布局布线也要考虑到模块的散热:a).发热量大的元件要避免扎堆布局,尽量保持板面热量均匀分布;b).热敏感的元件尤其应该远离热量源;c).必要时采用多层PCB;d).功率元件背面敷铜平面散热,并用“热孔”将热量从PCB的一面传到另一面。2 O2 d3 h; _" z0 ?! F6 ]
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1 z) I& i q) y4 E: M/ l/ P3 [如图4所示,上面两图为没有采用此方法时,MOS管表面温度和背面PCB的温度;下面两图为采用“背面敷铜平面加热孔”方法后,MOS管表面温度和背面铜平面的温度,可以看出:4 E# U1 |# N$ R
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MOS管表面温度由98.0℃降低了22.5℃;4 Y: g9 i0 T7 d% s
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MOS管与背面的铜平面的温差大大减小,热孔的传热性能良好。8 f( w1 i9 t' ]; b
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图4 背面敷铜加热孔的散热效果 $ R% F, q& ?2 F$ x# |
4 F0 i0 S4 I* E8 E0 o8 _7 J1 K2 O/ Z2、运用更有效的散热技术。
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利用传导、辐射、对流技术将热量转移,这包括采用散热器、风冷(自然对流和强迫风冷)、液冷(水、油)、热电致冷、热管等方法。5 b% z# z2 I0 ?
% o# S8 [5 g: }热设计时,还须注意:
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a.对于宽压输入的电源模块,高压输入和低压输入的发热点和热量分布完全不同,需全面评估。短路保护时的发热点和热量分布也要评估;
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9 G2 ~$ v3 t, _' Nb.在灌封类电源模块中,灌封胶是一种良好的导热的材料。模块内部元件的表面温升会进一步降低。
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3 S4 Y8 p, W; D. e. F. C5 A$ v) O2 ~! {除了上述提及的电源热设计技巧之外,还可以直接选用高性能的隔离DC-DC电源模块,可快速为系统提供高靠性的供电隔离解决方案。致远电子基于近二十年的电源设计经验积累,自主研发设计自主电源IC,打造全工况优选定压DC-DC电源P系列,满足所有工况需求,为用户提供稳定、优质的供电解决方案。致远电子自主电源IC相较于传统方案,内部集成短路保护、过温保护等保护功能,具备更高的集成度与可靠性,保证全工况高效、稳定供电,能够为用户I/O及通信隔离等应用提供标准、可靠的供电解决方案。
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