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发表于 2009-4-22 18:44 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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请教各位高手- A* k1 T+ ^0 A2 ~
  400M的差分线在布线的时候打过孔对信号的影响大吗?

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2#
 楼主| 发表于 2009-4-22 18:53 | 只看该作者
想用hyperlynx做仿真看看过孔的影响,但是所用的D/A芯片没有ibis模型,我该怎么办,望高手指点!

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3#
发表于 2009-4-22 23:03 | 只看该作者
hyperlynx里是有mod模型,可以自建,关键是slew参数!!!

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4#
发表于 2009-4-23 08:32 | 只看该作者
如果关心过孔的影响,其实不一定需要做通路仿真,channel analysis也是可以的。Hyperlynx也可以导出通道的S参数,结合你的信号接口要求来看loss是否符合

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5#
发表于 2009-4-23 10:16 | 只看该作者
过孔的影响是有点,但是对于400M的信号来说还好,估计你是设计RAM芯片吧,走线的话,最好靠近bottom的走线层,减少stub.

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6#
 楼主| 发表于 2009-4-23 12:05 | 只看该作者
请问在hyperlynx下的brdsim中,怎么提取差分线?

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7#
 楼主| 发表于 2009-4-23 12:06 | 只看该作者
我想过孔的影响是不是主要是阻抗不连续带来的反射问题?

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8#
发表于 2009-4-24 09:28 | 只看该作者
如果关心过孔的影响,其实不一定需要做通路仿真,channel analysis也是可以的。Hyperlynx也可以导出通道的S参数,结合你的信号接口要求来看loss是否符合1 B6 n0 l1 c$ A% ]# Y
wakinoda 发表于 2009-4-23 08:32
; |' c/ d7 {+ H  j8 A1 @- T
- M+ X; \! ?7 m6 j. ~2 F" `5 y: u% a
S参数是个不错的办法。(见过国外的一个discussion,有讲hyperlynx、HFSS对于S参数提取的结果相对可靠,SQ的S参数提取和实测差别较大)4 b1 s# @* Q) o1 L$ x+ U0 n9 ^
不过仿真终究是仿真,条件允许的话还是用VNA之类的测试设备获得S参数。

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9#
发表于 2009-4-24 09:32 | 只看该作者
本帖最后由 forevercgh 于 2009-4-24 09:34 编辑
  F' M2 u/ B2 q8 M
请问在hyperlynx下的brdsim中,怎么提取差分线?$ {* Q5 x0 I* T$ n
lingyun2000 发表于 2009-4-23 12:05

4 G5 \% o( N4 f( x
( n5 I, N: b: Y. ~- l6 nbrdsim什么DD?应该是boardsim吧0 q0 r6 ?" O2 D! N" ^
2 E/ s+ p* ~% U0 q7 E
enable crosstalk功能就能把差分提取到linesim中,不过可能会将相互靠近的多个网络提取过去(这个问题mentor也很郁闷,希望在后面的版本中有所改善),在linesim中将不需要的网络del就行了,另外,需要重新定义差分对线间coupling(based on physics information of the differential pairs)

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10#
发表于 2009-4-24 09:36 | 只看该作者
我想过孔的影响是不是主要是阻抗不连续带来的反射问题?: R4 l8 R! ]8 O* w+ H
lingyun2000 发表于 2009-4-23 12:06

& x/ I8 s( y( Q4 q, t7 i* S; E! X% z' u* d$ E0 ^7 n8 x5 A
反射是其一,同时过孔可能带来信号回流路径的变化
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