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有关MOS管应用概述(三):米勒振荡的应对

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    有关MOS管应用概述(三):米勒振荡的应对

      Q- d1 d" ~' e$ h1 c8 T, i; v4 _. `/ S8 l9 F. O2 E5 _! u
    , ]' c7 c8 W! \4 n1 ?) \

    + e0 b  Q( ]" z9 W6 r: n( z. W1 G% T7 e' ]
    9 C# r6 ]# O4 J) f* N( K& L

    上一节讲到,米勒振荡是因为强的负反馈引起的开关振荡,导致二次导通,对于后级大功率半桥、全桥等H桥拓扑结构应用中,容易导致上下管子瞬间导通从而炸毁管子,这个是开关电源设计中最核心的一环,所以如何避免米勒振荡可以认为是开关电源设计的核心关键。

    A、减缓驱动强度& G7 O4 t3 Y# @3 e

    % o$ L5 L1 P" ]& N% c! z
    1、提高MOS管G极的输入串联电阻,一般该电阻阻值在1~100欧姆之间,具体值看MOS管的特性和工作频率,阻值越大,开关速度越缓。% U8 E- j& O1 v+ y+ \& }
    2、在MOS管GS之间并联瓷片电容,一般容量在1nF~10nF附近。看实际需求。: v( F9 T" L/ r
    调节电阻电容值,提高电阻和电容,降低充放电时间,减缓开关的边沿速度,这个方式特别适合于硬开关电路,消除硬开关引起的振荡。

    B、加强关闭能力
    % D/ [9 j! k$ x9 Y1、差异化充放电速度,采用二极管加速放电速度
    # Q- J5 Z' S( B+ D

    9 D! ]5 u# D9 t5 M2 ]! B
    2、当第一种方案不足时,关闭时直接把GS短路; l7 s" |& |1 s) @9 A1 Q

    # j; ^/ t1 E, `7 u  u3、当第二种方案不足时,引入负压确保关断。
    ( j0 Y5 ~7 b$ z2 n: n8 H( k' o

    5 b2 B- D) F# g* X+ M! \C、增加DS电容
    1 H) Q9 ^/ ^7 O9 J! T( G在ZVS软开关电路中,比如UC3875移相电路中,MOS管DS之间,往往并联无感CBB小电容,一般容量在10nF以内,不能太大,有利于米勒振荡,注意该电容的发热量,频率更高的时候,需要用云母电容
    8 w5 N2 G2 i7 m* b* E! j1 n2 p

    . e- O" |5 j+ P1 V) gD、提高漏极电感方式
    % X) d" f6 l1 j+ F3 P' U( [相对应方案C的提高DS电容方式,该方案则采用提高漏极的电感方式; E) p) t. t3 [) O
    1、在漏极串联镍锌磁珠,提高漏极电感,减缓漏极的电流变化,降低米勒振荡,这个方案也是改善EMC的方法之一,效果比较明显,但该方案不适合高频率强电流的场合,否则该磁珠就发热太高而失效。4 T7 u" b/ F- J. r
    2、PCB布线时,人为的引入布线电感,增长MOS管漏极、源极的PCB布线长度,比如方案C的图中,适当提高半桥上下MOS管之间的引线,对改善米勒振荡有很大的影响,但这个需要自身的技术水平较高,否则容易失败,此外布线长度提高,需要相应的考虑MOS管的耐压,严重的,需要加MOS管吸收电路。
    ( ]" r  M- C3 e) X; QE、常用的MOS管吸收电路,利于保护MOS管因关闭时产生过高的电压导致DS击穿,对米勒振荡也有帮助,电路形式多样,以下列举四种,应用场合不同,采用不同的方式。
    0 i* W' h4 ]. L: `6 M) J8 N
    ' Y# c4 N' K* w3 O# D$ u1 H


    ( W' s1 y. n% `0 U
    8 ?0 b2 E9 i- t  v; U& Y& _* V  f! p8 k# ?  @
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