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AS模式(active serial configuration mode):FPGA器件每次上电时,作为控制器从配置器件EPCS主动发出读取数据信号,从而把EPCS的数据读入FPGA中,实现对FPGA的编程。
$ Y0 X5 `- Z2 ~8 w! ~) TPS模式(passive serial configutation mode):EPCS作为控制器件,把FPGA当做存储器,把数据写人到FPGA中,实现对FPGA的编程。该模式可以实现对FPGA在线可编程。" j2 `9 z, `' d5 R9 m5 I9 z- k3 P; K, T
在下载配置的时候对于cycloneII的器件,如ep2c8,在JTAG下载方式对应.sof,AS下载方式对应 .pof.
: k1 a8 Y9 \# x! |2 v1 vJTAG是直接烧到FPGA里面的 由于是SRAM 断电后要重烧,AS是烧到FPGA的配置芯片里保存的 每次上电就写到FPGA里1 w( J4 U) e& o, g& p5 x) x& o
关于JTAG的原理,大家可以参考OPEN-JTAG 开发小组写的《ARM JTAG 调试原理》。JTAG、BDM 都比较类似,实际上是将仿真功能嵌入到芯片内部,接上比较简单的调试工具就可以进行开发了,省掉了高价的仿真器。 p/ ?: T/ n( o: X6 F
JTAG 调试用到了 TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST这几个脚。其中 TRST 是用来对 TAP controller进行复位的,它不是必须的。通过在 TMS脚也可以使 TAP controller复位。
+ E0 T' ~2 B" M4 s9 O" U) _Test Clock Input (TCK)
, S0 u7 p0 H( FTCK为 TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号,TAP 的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。TCK在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。2 ?! r% x2 Z+ l& `* n5 T
Test Mode Selection Input (TMS)+ y. x- i, ~2 {1 ~ r* {
TMS信号用来控制 TAP状态机的转换。通过 TMS信号,可以控制 TAP在不同的状态间相互转换。TMS信号在 TCK的上升沿有效。TMS在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。
' D; Y/ r4 A( X O/ }6 o+ _9 k1 MTest Data Input (TDI)+ w0 `* |. n- a3 i
TDI 是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过 TDI 接口一位一位串行输入的(由 TCK驱动)。TDI在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。& V& P' x. n. R2 v( [5 `
Test Data Output (TDO)( [ h2 n7 ~( d) l: o' Z z
TDO 是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过 TDO 接口一位一位串行输出的(由 TCK驱动)。TDO在 IEEE 1149.1 标准里是强制要求的。
B1 @$ s3 ^ _- P7 u1 A# G/ R- c6 OTest Reset Input (TRST)' N4 K% A# e8 |( P0 R
TRST 可以用来对 TAP Controller 进行复位(初始化)。不过这个信号接口在 IEEE 1149.1标准里是可选的,并不是强制要求的。因为通过 TMS也可以对 TAP Controller进行复位(初始化)。) k _/ }; K' v7 ?
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“来自电巢APP”
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