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典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)

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发表于 2019-12-6 14:17 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)
3 N! C  M! `: Z! `) T! M1 {
内容4 ~: ]: @8 |; b/ B1 b  W5 `
12.1 射频集成电路测试基本问题' w  L% @: D( L" n$ T$ X
12.2 滤波器主要技术指标及其测试方案
( Y4 v% ~7 o" D8 w1 o7 @0 K12.3 低噪声放大器主要技术指标及其测试方案0 x, N) E) v8 b* u6 q
12.4 功率放大器主要技术指标及其测试方案
, x$ {1 L' s) R* K12.5 振荡器主要技术指标及其测试方案
; u& P6 Y- \. |- {  v2 k  ~, V* \# Q12.6 混频器主要技术指标及其测试方案$ c9 ~. N4 H! H( B5 D1 N
12.7 调制解调器主要技术指标及其测试方案
5 X) W* p/ e( Y: r$ a/ ^12.8 电子测量自动化
1 G( Q6 v: Z' n12.9 GPIB总线标准" w3 C& W2 g4 M3 z- J% h: v
12.10 VXI总线系统简介
5 m. H0 ?; D0 _9 ?2 b12.11 ATE自动测试系统0 S+ s  j0 ]. x, D& n7 a
第六次实验 典型射频芯片测试( M* D; l& M2 B) j1 @
第十二讲 典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控& F8 ]/ w# P9 D' o) ~
(GPIB)小结4
2 l+ Y$ K2 e2 u+ s) A4 u: X; @/ u& A5 q
12.1 射频集成电路测试基本问题* C% d5 B8 n$ D! m/ y( g
3 u8 m" D# L$ i+ C
配置测试系统:PF、LNA、PA、Mixer、VCO、Modulators and demodulators,工作频率为 800 MHz to 900 MHz,1.9 GHz and 2.4 GHz,或高于2.4 GHz;
/ n, C! H0 y+ G; r% @" v8 L  X( G7 V" f
RFIC性能测试:器件增益/损耗、S参数(增益/损耗、隔离、匹配、VSWR)、功率(邻道功率和效率)、增益压缩、混频器转换增益、混频器泄漏、网络噪声系数、
, f3 l* W) k4 [% O( j; J) ?6 iN阶内调制(交调和互调)、振荡器相位噪声、谐波失真(SOI和TOI)、IQ调制压缩、隔离、寄生信号、功耗、VSWR和EVM等。+ Z. N7 v/ o, t" X3 x* u/ Z
, T; M5 K, \. \3 \' n( ^
无线系统测试:例如:WLAN(无线局域网)。
0 p' v# |# G9 ^3 l' W0 x5 r7 P3 J0 r( b* l# d; y+ w6 h' o
无线局域网的两大标准:IEEE802.11和 ETSI HIPERLAN;
( D; N4 M8 \  o7 n' c2 f8 G; P7 y3 Z1 K: q$ I/ q( J$ ~
标准中采用了不同的调制技术,例如:FSK、MSK、GMSK和OFDM 等调制技术;
7 V  B0 n* F% g6 c+ V( N( W8 ?
) b/ j0 n8 l" [9 W& o无线局域网的射频物理层,包括时域、频域和调制域的分析和调试。% u- t" }) t* T: a

1 i) n% ^1 y) E/ w
; y( E, k* a  O1 i+ J

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