|
|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
植物的生长需要某种特定的温度、湿度、光照度和C02含
6 D C* }" A& {1 m" i- H6 n9 A量等条件。当自然界气候条件不能满足上述要求时,它们便会
8 B. V% t+ S8 C1 @7 v [生长不良。甚至枯萎、腐烂或死亡。如果对温室实行智能化控5 @+ w* A! w( ~ m6 Y. T: a$ V! x
制,使其气候参数始终处于植物生长所需的最佳状态,将大幅度
% L' c! `& K f提高其产量.带来较好的经济效益。现代大型温室中.单片机的* K, v! ^# o! b6 A1 \ G
应用使得所有环境因子的检测、传感、调节,都由计算机进行综; \- m) ]- b& ]6 j0 t5 p7 i
合管理,实现了智能控制。本文提出的基于单片机的温室测控) d; W8 W5 j) C7 K
系统。是根据目前我国温室大棚生产的特点.把个体生产和规( l- Q' U2 ?" t" m, x' C
模化生产相结合.在单个温室大棚生产实现智能自动化的基础
Y% \2 q/ [, |6 h& V7 D上,实现连栋温室大棚的规模化生产。由于传统的单片机如5l
, o+ \4 x! w: {% V$ V( x4 E D系列功能单一。指夸复杂.因此在设计中采用AVR新型单片机" e+ z5 N( h6 K4 U& Z7 A% ?$ X0 F
取代传统单片机,配合多种新型传感器完成环境参数的采集、存
$ f6 r- g! T: W( }9 N) v6 S储和显示,并通过RS232接口与上位机进行通讯.实现多个温
& O8 x7 P5 I3 K室大棚的集散控制。1 `# N8 b1 w! ]! J# E! k
2温室测控系统的组成3 `! Q& _& a- G8 z; V) i) _
温室测控系统分为单栋温室测控系统和集约化连栋温室测$ {& U. D1 Y" C7 [. B' \$ I
控系统。后者是在前者的基础上建立的。
8 \/ @& A% I, T8 q7 W! N0 d在单栋温室测控系统中。各种传感器将测得的非电量.如温- d0 i3 B! e! u$ p' w
度、湿度、光照强度和C仉含量等环境参数,转化为电量,经Aft)* N2 Y: k T) Z V; q
转换后进^AVR单片机ATmega8515进行处理.并通过通讯接
6 u+ T% g- g q( X' w口和上位机实现通信,启动执行机构实理相应的操作。AVR单; a) @( q" e: T4 R' F {5 M
片机还可将采集的数据与用户设定的报警阉值进行比较,进行/ y0 }3 Y6 ^1 a- p7 n+ S
超限报警。温室大棚各点的环境参数由于位置的不同而分布不
/ R4 ~8 r8 q! a( V7 ^2 b均匀,为提高测量精度,对于室内不同位置。该系统输人的模拟
3 b X, b r" j# K7 t/ z信号栗用多点检测和循回检测的方式。4 X$ i+ N5 }) C2 H2 B0 O
( r+ K' k: U( ^: [& Y3 @+ b0 }+ v
1 X2 X3 i! p. U/ a! b
9 A* z; i9 N4 _
6 z. B$ z d1 R# B. w
) J. @* M, i0 a# w% g' i% o |
|