80c31单片机电路总剂量效应研究

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摘要:研究了80C31单片机电路在Coγ辐照环境中的响应特性及参数变化规律,通过对辐照
后其电离辐照敏感参数在室温和100 C高温条件下随时间变化关系的分析,讨论了电路总剂量辐
" P& J5 _$ d' R' Y0 W射损伤的机理。
" E7 w' R! @. x/ Q3 M7 {关键词:单片机; 60Co γ辐照;辐射损伤;退火.
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有关电路总剂量辐射损伤的机理