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静电,是大家都非常熟悉的一种自然现象,在我国的北方,人们在脱外套或毛衣的时候,经常会听到一些噼里啪啦的声音,有时带着火花,其实,这就是人体身上所携带的静电。静电会给人们的生活带来种种不便,有时甚至会对人们的生命财产安全造成巨大的危害。因为, 静电通常产生的都是接近上万伏的高压,甚至几十万伏。试想一下,如果在航空航天的微电子行业出现这种静电,它对其中某一个电路芯片损坏所造成的后果,那将是不堪设想的。
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/ ]- ?5 V f- {+ u8 H" ]2 y- ? 静电所带来的危害性已引起了各界广泛的关注,为了保护生命及国家财产的安全,国家出台了相应的法规条例,规定由相应的检测机构去执行检测任务。既然消除静电的发生是几乎不可能的事情,那么人们可以通过在实验室检测物体抗静电的能力,以此来判断静电抗扰度,在这里,我们将为大家重点介绍在手机进网测试中,实验室静电抗扰度ESD测试的相关内容。
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/ f: O3 w6 [/ W$ X& l) c. |! R 静电抗扰ESD是手机进入各国市场的一个必测项目,也是厂家最为担心的问题之一。下面我们先来了解一下静电靠扰测试(ESD)是如何进行测试的:
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(一)测试方法; n4 m" F# q& d8 `
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1. 严酷度等级:
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接触放电:+2KV -2KV,+4KV-4KV $ z9 x1 L! j: v: i( Y' c' E4 y- t
空气放电: +2KV-2KV,+4KV-4KV,+8KV-8KV
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j' _2 t+ b( V# w0 N9 r6 | 2.对被测设备的监视:, L' H9 {$ M# y7 v! c4 x: j) @
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专用模式:被测移动电话与无线综合测试仪建立并保持通讯连接,在加扰的过程中,观察被测移动电话机是否维持通信连接。整个加扰过程结束后,观测被测移动电话机是否仍能保持通信连接,是否能正常工作,有无用户可察觉的通信质量的降低,有无用户控制功能的丧失或存储数据的丢失。 4 y8 B' ? S( I3 T$ z
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空闲模式:观察发信机是否误操作。实验结束后,观测被测移动电话机是否仍能保持通信连接,是否能正常工作,有无用户可察觉的通信质量的降低,有无用户控制功能的丧失或存储数据的丢失。
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; Q, W' e2 s5 J. k2 }: @% Z; c; L 3.测试条件与结果:, U/ ?# J1 e2 ^! T- Y T
" V+ V- Q0 q& D5 p1 J- K. { 专用模式:被测设备的工作状态:被测移动电话机与无线综合测试仪通过空间链路连接。被测移动电话机与无限综合测试仪建立并保持通讯连接,GSM900MHZ时,ARFCN为62,BCCH为31;DCS1800MHZ时,ARFCN话机为700,BCCH为735。无线综合测试仪命令被测移动电话机工作在最大输出功率电平。被测移动电话机分别工作在与充电器相连进行充电的状态和*电池供电的状态。
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$ M; Y9 ?0 K, n0 t( L4 {# q实验结果:3 [% T. T7 B: y' ?% F# w
试验点 实验条件 试验结果5 A: w( ?3 @ @0 u
结论
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移动电话机样品1 +充电器样品1 移动电话机样品2 +充电器样品2 移动电话机样品3 +充电器样品3
( I V; o3 U% }# y& P, B裸露的金属板、水平偶合板、垂直偶合板 接触放电:每点测试次数10次 ,电平:+2KV-2KV,+4KV-4KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 合格 3 I0 a6 S+ v* A/ W- ^" w+ X# M
机壳、接缝、接键、LED显示屏 空气放电:每点测试次数10次 ,电平:+2KV-2KV,+4KV-4KV+8KV-8KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象
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空闲模式: 被测设备的工作状态:被测移动电话机与无线综合测试仪通过空间链路连接,BCCH信道激活,被测移动电话机与无线综合测试仪保持同步,处于待机状态;被测移动电话机分别工作在与充电器相连进行充电的状态和*电池供电的状态。 ( d% R4 m6 `% \9 t& R3 ~
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实验结果:2 c, Q& k" n0 m$ [$ S# W Q& @5 d2 v$ U
试验点 实验条件 试验结果9 {- e: G: s; A+ {$ R
结论
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6 x8 x) I/ H8 n6 x移动电话机样品1 +充电器样品1 移动电话机样品2 +充电器样品2 移动电话机样品3 +充电器样品3 + z# H1 }6 O% V; p6 G8 ]
裸露的金属板、水平偶合板、垂直偶合板 接触放电:每点测试次数10次 ,电平:+2KV-2KV,+4KV-4KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 合格 4 @, l; _, B. b; M
机壳、接缝、接键、LED显示屏 空气放电:每点测试次数10次 ,电平:+2KV-2KV,+4KV-4KV+8KV-8KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 & D' V4 ?6 S$ |/ T8 H' H
合格5 f% ]# G* E2 I6 R' r+ \
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(二)应对整改措施
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目前在手机的静电靠扰测试(ESD)中经常出现问题的地方有如下九处:
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1:Receiver 7 g' P1 u, z) j3 T6 I5 {' P
2:麦克风MIC / H# o b* E6 p& K! q y
3:键盘
1 ?7 ^1 q& B7 q- j3 g& q 4:喇叭Speaker
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6:电池后盖
7 y0 f, u G" ~" ^* _ 7:侧键及USB口0 d+ O' D& Z a2 {/ A: r
8:显示屏 ! N8 w0 u9 f6 S: l
9:中间缝隙,滑盖缝隙等- T9 I, ^8 B. }: f0 W; d, M
+ M/ _' v" t D/ x: K在对手机ESD出现问题的整改过程中,大致可采用以下两种办法:
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1.导:就是用导电胶带导电泡棉或者铜箔,将静电引入GND。
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2.堵:就是用类似绝缘胶带,堵住放电的路径,让静电放不出来。1 u8 {9 L" {" i# Q2 \8 l8 G- Z2 e; P
$ i- K) X" N: x! b! \, y下面用两个实际例子来说明以上这两种方法的应用。$ {0 J; Q# N( G
8 g) W) c2 I l* c, v- @! e9 l6 a* O实例一:LCD屏幕。采用导的方法。! }' Z0 P4 V& S) E/ j' z( Y4 D2 T2 P
" Y+ O* Y) ^3 w( ]# M' v9 } 屏幕是最容易出问题的地方之一。屏幕上可以使用导的方法,把打在屏幕上的静电及时的疏导到主板地上。在处理的时候,有些地方要注意贴上绝缘胶带防止短路(如图1)。然后用铜箔包住屏的三个边,下压的时候正好接到主板地上(如图2)。正面屏边上不能露出太多的铜箔,不然装机后铜箔会露在外面(如图3)。' M; g1 j5 s! U& M" v9 D i
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实例二:Keyboard键盘。用堵的方法。5 A5 E' y2 L! I4 s, f
" n; R9 I" T, H键盘也是最容易出现问题的地方之一。特别是金属按键的键盘,基本上都需要处理。0 b, w) @( P, y' ~5 ^; V1 x0 Y7 _
如图4,中间按键+/-8K静电不过。打开手机,用绝缘胶带把整个键盘都包裹住,而且要用一整块的胶带,不能一小块的拼凑起来(如图5)。最后把键盘的FPC线也用绝缘胶带包裹起来,FPC线静电也很容易打坏。 q% l+ q+ J! a1 F$ W
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4 t7 A- `# _, h) C( b9 u+ q 以上两种方法,不管是导或者堵的方法都能达到通过ESD测试的目的。用哪种方法可视具体的情况而定。笔者倒是习惯用导的方法,与其堵而抑之,不如疏而导之。
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