使用示波器测量DDR3信号时应该注意什么？如何处理探头的负载效应？

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一、
* ^4 ^3 y  \0 Z& ?- z2 Y之前一直在做一些单片机板子，所涉及的接口，像SPI、UART，速率多在50Mhz以内，之前开发时候，是直接用无源探头和350MHZ示波器，通过接地环测试，可以很好反映信号本来的面貌。如今打算进一步往前发展，做SOC、MPU的硬件开发，不可避免地要接触到，DDR内存，并且在PCB设计中有阻抗要求、等长要求；
: ^0 B6 Y7 r% p. {假如我想直接测试目标板子上的DDR内存信号（非间接），DDR时钟和数据，或者数据和数据，两两之间的时序关系，以及波形质量时，需要注意些什么？  这么高的速率，探头的负载效应应该影响很严重吧？    可以照抄之前的方法，换一个高带宽示波器，还是无源探头，就近找接地点，然后用接地环测试？
现在行业内，一般采用什么样的测量方案？

0 ]% H: |( n* t这个问题疑惑了很久，望各位慷慨赐教。
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% D. Z; U- L- x* ?: z, e9 d
二、
* t9 }  t7 {- q  {7 @0 Q! s, h通过电巢课堂，毛忠宇老师的"常见Topology介绍与仿真"，的学习。
) }( d0 T) O! _7 |  v给我启发，想到这么一些思路：
①像DDR3的时钟信号的波形、地址信号、数据信号，当只有一片DDR3内存时，可以在终端电阻的地方，先摘掉终端电阻，然后再通过50Ω同轴电缆接示波器；（这里有一个问题，同轴电缆怎么接到板子上，直接焊上去？）
有一些内存是内部端接，那好像就用不了这个办法

②像测量两两数据信号、两两地址信号的同步性时，当只有一片DDR3内存时，只要①是可行的，两个信号同时测，即可看出时序是否存在问题；
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& k+ V8 |; a0 W0 v  E+ U5 G8 ~

流川枫

怎么没有人回答呢？

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流川枫 发表于 2020-4-15 17:19
8 v! `1 R3 `6 C怎么没有人回答呢？

https://www.eda365.com/forum.php?mod=viewthread&tid=350754&page=1#pid1824894
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在这个版块，有个朋友给出一个答案。
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