|
|
本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑 ; l* p" h* M V+ H, Q% t
$ ~! h8 i. L1 u: Z$ ?! ~
回复 shark4685 的帖子
0 G# l3 |9 Y2 J* }, X8 a \1 t0 j9 t0 A4 }4 {
兄台这个想法很好，
8 l6 m& J0 _" o$ ~4 z( A4 v但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。& v5 G$ @! m( h: K- o
高频的情况下需要考虑到! F" q# }' n) D7 |3 p8 O! A/ h
1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化
* H+ D5 l( t: n2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化
5 m6 T2 {! c+ a4 X# |! ^/ a$ ~ e9 ~6 W" i3)介质的不均匀性
2 W' C9 d7 i4 A- @9 U3 @2 O0 n# G1 @# \+ Y5 B i3 V9 T
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确
: z H: B* C" P) s* P% ? y; I/ @7 ]: {而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。7 P( C9 q6 T" `) }1 |* Y; [
我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
0 m' n, O, ~7 @# K( e而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)
! P1 I- R6 k: i! ~& L- D所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。
7 t# j0 A' Y, d2 M
+ K: q/ g1 z3 i! k如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。1 v1 o7 x, @, f. c" d
而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。
$ |5 j3 I. Y6 l5 s; o: w2 Z' P
# w8 l4 D) ?1 R+ A) `* U对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
7 H. ^# R/ }- \1 `; D+ a! Z
4 Y1 Y2 \# d+ }7 s+ v |
评分
-
查看全部评分
|
[复制链接]
/1 
发表于 2011-5-6 12:39
发表于 2011-8-2 23:15
