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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑
% h0 e3 g: {3 ~- S& t4 ]8 x. c, @/ z. A1 d3 ~! r
回复 shark4685 的帖子& x! n' d; D$ G4 d& J! }
5 ]% w/ h2 `9 o$ f2 t
兄台这个想法很好，
: [# a+ T" ]# h但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。" n; G% p# G) r
高频的情况下需要考虑到 \8 _% Z2 p, _! h' H
1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化
3 h2 Q& \0 J% {2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化7 f1 \! U* v$ a4 _: o
3)介质的不均匀性
" H N" g7 @" k7 @* C' _5 j" a) F9 f
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确8 a4 _0 ^5 i# ]! n& m" m' f
而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。
* O+ j4 i5 k2 e4 J' W我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
& |2 J& G" c* {而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)
) }4 s0 @% x! A$ _- A: }+ i所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。
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2 ]# v1 @( n/ |5 u如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
' a& g+ H% e% \' @/ |- D4 a8 y( K而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。2 |8 L; K$ {' i3 t8 V0 J% F$ k. x
: _6 }0 F% f M' |: ?
对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
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