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本帖最后由 wuzl 于 2011-8-2 22:59 编辑 * m# c, C$ Z* P* S
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回复 shark4685 的帖子. P/ |4 j9 @( [% ]& a$ S7 E
+ [( }, q( _% ~+ t# Q% R% F
兄台这个想法很好，4 x3 `: v. F3 \9 z9 E+ O
但是如果要仿真到5~10GHz的频段，目前大部分的软件都还很难处理好所有的情况。, @/ E8 u/ l; U; [0 y
高频的情况下需要考虑到9 ?4 E/ U# Q8 P3 b& X% O
1)skin effect和表面粗糙性，造成的电阻和电感的变化5 f) @5 t) x$ b& q1 u
2)介质的频率相关性，造成的电容和电导的变化/ i# _0 C: G0 }( U/ w: _
3)介质的不均匀性* G1 n, M5 V% O% |/ n
& B, p; G6 [5 P6 [- q
大部分的阻抗计算软件比如polar可能会考虑到1)，但是基于的都是简单的波浪模型，并不一定准确
' D X- s- I2 L- ^- B" [- I7 D# {而对于2)，3)目前polar什么的都无法include，而这部分将有巨大影响。1 H5 `# P- {% I: I5 t$ V& b
我所知道的CST和HFSS都支持2）介质的频率相关模型，但是因为建模的缺陷，想要include 1)那么就要花费很多时间建模。
0 ~3 y, Z5 h0 j3 I) g而对于3)只有少数软件支持，比如Q3D，当然愿意花时间建模，CST/HFSS也可以搞定3)% `, ~# ~* V! L
所以十全十美的s参数提取是巨大的挑战，需要自行修改RLGC。! ]# X. M! Z7 c- @( v: i) M* ^
; j; w5 B$ k2 s, J: f
如果你要比较准确性，我相信对于1)，2)，3)的处理不同，各个软件在高于5G的部分可能会有一定的差别。
- d; s2 X1 S' W2 {( }/ ?, ]而且你仔细检查s参数，会发现他们的质量不太好，比如因果性，无源性，物理性可能欠佳。5 E! p, o) d B* |$ J
7 Z, \# x' G4 N- F) ^8 E7 _9 [
对于高频应用，s参数的质量不好，意味着这个仿真的准确度要大打折扣的。
2 K/ e. i: |$ a, S3 s% ?$ q+ w* W3 C3 a5 C1 k
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发表于 2010-6-22 09:28
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发表于 2010-6-24 14:59
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