EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
本帖最后由 jacky401 于 2020-8-31 17:45 编辑
2 [/ r" U) C- J) q, x: i' k4 F4 J0 ?' V' ?6 F& ?
目录 1 前言
) |1 e1 h6 }+ O, l2 j2 初步检查
* q6 J2 M: t/ Q2 P K2 ]8 E) W3 对原因追根溯源% `# R! A! S0 j6 b' j; V+ P
4 我们来做试验
7 E6 ^2 y, _2 F5 H A s7 Q2 l4.1 寻找失效原因
4 g0 B: b9 c( a+ m- U5 N! @4 Z4 r4.2 增加更多能量+ I: y9 g* m# O6 N
4.3 问题处理 E3 W! _7 ~- m& u3 z5 Q# C
5 结语
- P8 {8 G7 ^( J8 x' x8 L
. i" p0 b7 E t$ l- ]; _什么原因毁掉了运算放大器 Intersil公司 詹姆士·文森博士 ( l2 y& A( a* M4 E1 J
; f7 Y2 G2 s7 H4 f
1 前言
9 p; y6 ?' x/ C; b9 `7 @* | 查明造成半导体器件损坏的电过载(EOS)事件的根源是有难度的，而EOS事件出现无规律性时难度会更大。为阐明如何才能对EOS事件追根溯源，在此用一个实例说明我们是如何帮助一位用户辩认两种运算放大器(op amps)的失效原因的。 , U- O9 _$ o" }9 _5 Z) `' x
! p+ d) Q! P# i& G" |
9 K0 P. O! X# W9 P# Y | 
[复制链接]
/1 
发表于 2020-8-23 23:15
收藏
淘帖
支持！
反对！
发表于 2022-10-25 13:16
