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本帖最后由 jacky401 于 2020-8-31 17:45 编辑
3 [ a; U% F% x8 a' H& k$ l) d7 R
]3 [4 i* q! ^* n C目录 1 前言
5 e% K! T2 i4 h; q2 初步检查7 j* F4 d9 ^- Q" p9 \
3 对原因追根溯源7 o8 M: m& C5 {/ L7 A
4 我们来做试验4 u8 ~' Y f8 P {( l- {: h- ^- b6 d
4.1 寻找失效原因 s. M; F$ ~7 H3 c1 \$ n% a
4.2 增加更多能量, X1 g9 M; { I& Y3 r
4.3 问题处理+ {: ~: i3 ?8 Q5 f
5 结语
. z9 b3 J3 R# a- Q) T! G( h. s
1 c% m; s+ t# }1 F% O什么原因毁掉了运算放大器 Intersil公司 詹姆士·文森博士
' j; _" p5 }# ^! b1 u! Z" P
4 t. }. R) h. M* |; t- t9 |' T1 前言
8 [; z6 t: c# O/ ~ h% b9 Q* d9 ]9 v 查明造成半导体器件损坏的电过载(EOS)事件的根源是有难度的，而EOS事件出现无规律性时难度会更大。为阐明如何才能对EOS事件追根溯源，在此用一个实例说明我们是如何帮助一位用户辩认两种运算放大器(op amps)的失效原因的。
& J( H- d, Z+ b* n g: u4 g/ ?* ~6 J5 h/ K$ Q& a
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发表于 2020-8-23 23:15
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