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本帖最后由 jacky401 于 2020-8-31 17:45 编辑
$ `$ A: C- Z. N* `, P' G
* u! [2 i2 Y5 G( E0 {+ z目录 1 前言( d; Z x/ h( {5 d# @# R
2 初步检查
% \, r' x; Y% v6 I- ], K3 对原因追根溯源" S" p0 ], P8 `' r$ k; U
4 我们来做试验- k+ _. z2 ]" ^( O3 Z" d3 D
4.1 寻找失效原因' a4 S3 {& ~+ ^8 y7 ]' Y
4.2 增加更多能量% B2 n) C! R& ?; a$ O
4.3 问题处理
9 r) c! f9 _% F: s8 D# k8 M7 d5 n 5 结语 , }; c' d" v6 G
9 I, V" X5 C( l7 M1 |' S5 j什么原因毁掉了运算放大器 Intersil公司 詹姆士·文森博士
! Y7 v. f; x! ?3 O7 O: Y2 K) l8 J0 ^$ I, P* L
1 前言
) R% B, x3 y. W 查明造成半导体器件损坏的电过载(EOS)事件的根源是有难度的，而EOS事件出现无规律性时难度会更大。为阐明如何才能对EOS事件追根溯源，在此用一个实例说明我们是如何帮助一位用户辩认两种运算放大器(op amps)的失效原因的。 % N F/ O$ e8 i3 d! p1 F8 u; R
* [; R% u! _8 L) _) V- y4 [, z- |7 v
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发表于 2020-8-23 23:15
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