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从开发、生产、工程来研究元器件失效

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  • TA的每日心情
    奋斗
    2020-9-2 15:06
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2020-8-31 14:24 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    x
      电子信息技术是当今新技术革命的核心,电子元器件是发展电子信息技术的基础,了解电子元器件失效原因,可提高元器件可靠性,也是电子信息技 术应用的必要保证。电子元器件失效存在于产品的整个生命周期,如果缺乏对各个阶段失效信息及失效器件的收集,失效分析工作将失去必要的“物质”基础。因 此,开展失效分析,必须首先在开发、生产、工程等阶段建立失效信息和失效器件的收集制度。( S1 C) e: z: n+ G- b0 {

    : b$ }) a- C6 y6 Z" g  失效预警及启动分析机制' B+ B  W# z; Q% S( B5 @
    . h+ J  L' {* x
      失效分析虽然重要,但是也不必也无法做到对于任何一次失效都进行彻底地分析。在产品生命周期内,器件失效具有明显的阶段性特点,不同阶段失 效的原因也有所不同,因此一个合理的预警机制和启动分析机制非常必要。而实际操作中,应根据具体情况来灵活处理,根据需要决定是否启动失效分析。6 S( \  D1 N' x3 x, K1 [. A

    * u! F% e7 a. r  开发阶段失效数量少,但相对的失效率很高,而且设计使用问题、新器件质量问题相对较多。在该阶段发现问题,更改成本也较低。因此应适当降低预警门限,加大失效分析的覆盖面。1 G! w# P( H8 ^- _  B5 d1 V

      J1 b. q! a. E) m7 x4 x  生产阶段的失效多集中在早期失效、批次物料问题、ESD问题、测试过应力问题以及尚未发现的设计隐患。对于该阶段的器件失效问题,预警门限相对较高。& E" Z' @) I, _! P/ D
    6 Z% G* }8 O- [  d3 i
      工程阶段的器件失效,原因主要有早期失效、批次物料问题、尚未发现的设计隐患、雷电、潮湿、硫化等环境问题、偶然失效以及损耗失效问题。该 阶段的预警门限应处于开发和生产阶段之间。通过工程阶段的失效分析工作,去除明显异常的失效数据,长期可以积累得到公司实际的器件可靠性数据,建立公司的 器件失效率、失效模式与机理数据库。
    " J7 ^1 o, S( }  B  U) \
    $ }" Y' K2 G) `7 u  信息反馈机制4 z8 v+ l! b7 R1 ]; ^% ]" K( S( S
    / x( x7 N; ]5 J- X5 i
      失效发生的环节有开发、生产、工程等阶段,失效信息的汇集部门也相应地存在于多个部门。如果没有及时地将失效信息反馈至失效分析部门,势必 影响失效分析的及时性和分析结果的准确性。因此,必须建立有效的反馈渠道,使失效分析工程师能够及时了解器件的失效情况以及分析进展。
    ' a! Z6 O- |. O" |: n( y7 m" H3 e3 T1 d
      专业技术及人员
    - q0 s6 W' }! M% C  |8 l  S( t2 D" b/ P5 _
      失效分析工作具有较强的专业性,从失效分析的过程看,主要可以分为失效确认,无损检测,解剖分析,失效原因验证,改进措施验证等阶段,整个 过程除了需要专业分析实验室进行解剖分析外,其他几个阶段对失效分析人员的整体素质也提出了较高的要求。严格来讲,专职的失效分析工程师应具有丰富的设计 开发经验,熟悉失效物理、硬件可靠性、失效分析仪器及其使用等知识和技能。
    & m/ A$ n7 p' ~% |  善于总结,实现点到面的技术提升
    1 I4 \, \2 ^1 W/ F/ ?3 m0 F  就一个单独的失效分析而言,其作用和意义是很有限的。该项工作之所以重要,还在于通过失效分析,可以为可靠性工作提供思路和线索。通过几个 独立的失效分析的积累,及时启动对某一类器件或某个技术专题的深层次研究,从而解决一个层面上的问题,这样便提升了失效分析工作的作用和意义。因此失效分 析人员应具有较高的技术敏感度,善于提炼和总结,通过日常失效分析工作,不断拓展和加深可靠性工作的广度和深度4 @( k, h) h  k5 H8 H1 I7 _4 r

    1 M7 o/ H2 w  c3 E, [, H
  • TA的每日心情
    慵懒
    2020-8-28 15:16
  • 签到天数: 3 天

    [LV.2]偶尔看看I

    2#
    发表于 2020-8-31 15:12 | 只看该作者
    通过几个 独立的失效分析的积累,及时启动对某一类器件或某个技术专题的深层次研究,从而解决一个层面上的问题
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