EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
1、简介随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。
, F s& S) @& c) k4 ]2、服务对象 印制电路板及组件(PCB&PCBA)生产商:确认产品质量情况,对产品生产过程中的各种问题进行分析,探究问题的根本机理,提供改进产品设计及工艺生产的参考意见;
: G- f9 M+ Z, P. p( g. A! {" K( x印制电路板及组件(PCB&PCBA)供应商/经销商:控制进货质量,增加用户的使用信心,提升品牌价值;
. J# B1 F8 F8 p: U8 C印制电路板组件(PCBA)整机商:及时消除对生产过程中的潜在问题,提高制造产品的可靠性,降低责任风险。+ c m. D3 _0 |7 I& {! Y' K
分析过的PCB/PCBA种类: 刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板 通讯类PCBA、照明类PCBA 3、主要针对失效模式(但不限于) 爆板/分层/起泡/表面污染 开路、短路 " q' Q+ u4 @; h% q
焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良 腐蚀迁移:电化学迁移、CAF 7 W3 W' r' W9 D& p, K# g
+ f& S+ e5 T0 a' ?; |7 x1 k
4、常用失效分析技术手段 # O& O$ a8 {* D! j0 J
无损检测:3 E& ` J) q9 n+ H J
外观检查# M# M# h" g: G
X射线透视检测
. L9 d; ^: H- |三维CT检测
0 R& C9 J) ~! \C-SAM检测& U5 K$ n' h- ^5 ]7 k! j0 Y2 [% E
红外热成像
+ Y, H) U b7 P5 K) |! u; d | 热分析:3 W3 r0 q0 ~7 Y: {) i! ]9 Y# m. t
差示扫描量热法(DSC)
1 S- p& o8 t$ ^& h# q" l热机械分析(TMA)
* A& W0 }/ V, @! n4 N' M热重分析(TGA)
2 s# g, B: d4 F8 t, O动态热机械分析(DMA)
4 M5 N4 {9 a' x2 R5 B0 r导热系数(稳态热流法、激光散射法)* C7 Y! K% i( ^4 x: E! e0 I) t- {
|
1 H4 U$ v0 h) Q! R | 表面元素分析:4 \8 |& _* m. l) T" k9 c Q) E( ~6 p
扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)0 a0 Z% D6 _( B; Z# F: i: |7 y) \: W
显微红外分析(FtiR)
/ {9 n8 Y8 O j4 h俄歇电子能谱分析(AES)
$ @7 _# M5 h% a& \* IX射线光电子能谱分析(XPS)7 {& V9 Y; U* [' {$ _4 i8 C
二次离子质谱分析(TOF-SIMS)2 D7 d/ I+ o' [ C
, H! _! d' [* \! s1 J" A/ m失效复现/验证
- k' E4 Y( K$ J% E | 电性能测试:
; P+ e7 n2 z4 D( M$ n A击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移& S' V7 X/ ^, |0 k2 N( B4 f. I
| 破坏性检测:8 g9 t. Q$ Q2 ]; N* T
染色及渗透检测* D' C% ]) U. J b" ~: h
切片分析:金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样4 g5 t+ {2 j" X9 q/ c
| : }/ i+ O0 D6 c1 B2 n
- ]2 I0 `8 C2 r$ \4 }; M/ _' d
9 W7 ]5 c2 m y/ }0 `3 _5 A ) z2 ?5 p) s- `# o! E% c
+ ?6 l0 n: {1 {- R, J
5、产生效益 帮助材料生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力;明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。
9 _, p7 E w, \7 m" u: F' Z+ _- z2 d7 H, `2 L' o
. z0 r8 Q8 L' F$ X& c( M$ D+ h" V6 r4 ^
0 `$ y$ q0 K* F2 x% K
) D1 a( c9 A- E: W' ]- B% Y' ?
|