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PCB/PCBA失效分析服务对象以及模式介绍

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    慵懒
    2020-8-28 15:16
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2020-9-18 11:17 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    1、简介随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。
    , F  s& S) @& c) k4 ]
    2、服务对象
    印制电路板及组件(PCB&PCBA)生产商:确认产品质量情况,对产品生产过程中的各种问题进行分析,探究问题的根本机理,提供改进产品设计及工艺生产的参考意见;
    : G- f9 M+ Z, P. p( g. A! {" K( x印制电路板及组件(PCB&PCBA)供应商/经销商:控制进货质量,增加用户的使用信心,提升品牌价值;
    . J# B1 F8 F8 p: U8 C印制电路板组件(PCBA)整机商:及时消除对生产过程中的潜在问题,提高制造产品的可靠性,降低责任风险。+ c  m. D3 _0 |7 I& {! Y' K
    分析过的PCB/PCBA种类:
    刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板
    通讯类PCBA、照明类PCBA
    3、主要针对失效模式(但不限于)
                     
                    爆板/分层/起泡/表面污染                         开路、短路                        
    " q' Q+ u4 @; h% q
                                                 
              焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良                   腐蚀迁移:电化学迁移、CAF
    7 W3 W' r' W9 D& p, K# g
    + f& S+ e5 T0 a' ?; |7 x1 k
    4、常用失效分析技术手段
    # O& O$ a8 {* D! j0 J
    无损检测:3 E& `  J) q9 n+ H  J
    外观检查# M# M# h" g: G
    X射线透视检测
    . L9 d; ^: H- |三维CT检测
    0 R& C9 J) ~! \C-SAM检测& U5 K$ n' h- ^5 ]7 k! j0 Y2 [% E
    红外热成像
    + Y, H) U  b7 P5 K) |! u; d
    热分析3 W3 r0 q0 ~7 Y: {) i! ]9 Y# m. t
    差示扫描量热法(DSC)
    1 S- p& o8 t$ ^& h# q" l热机械分析(TMA)
    * A& W0 }/ V, @! n4 N' M热重分析(TGA)
    2 s# g, B: d4 F8 t, O动态热机械分析(DMA)
    4 M5 N4 {9 a' x2 R5 B0 r导热系数(稳态热流法、激光散射法)* C7 Y! K% i( ^4 x: E! e0 I) t- {

    1 H4 U$ v0 h) Q! R
    表面元素分析:4 \8 |& _* m. l) T" k9 c  Q) E( ~6 p
    扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS)0 a0 Z% D6 _( B; Z# F: i: |7 y) \: W
    显微红外分析(FtiR)
    / {9 n8 Y8 O  j4 h俄歇电子能谱分析(AES)
    $ @7 _# M5 h% a& \* IX射线光电子能谱分析(XPS)7 {& V9 Y; U* [' {$ _4 i8 C
    二次离子质谱分析(TOF-SIMS)2 D7 d/ I+ o' [  C

    , H! _! d' [* \! s1 J" A/ m失效复现/验证
    - k' E4 Y( K$ J% E
    电性能测试
    ; P+ e7 n2 z4 D( M$ n  A击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移& S' V7 X/ ^, |0 k2 N( B4 f. I
    破坏性检测:8 g9 t. Q$ Q2 ]; N* T
    染色及渗透检测* D' C% ]) U. J  b" ~: h
    切片分析:金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样4 g5 t+ {2 j" X9 q/ c
    : }/ i+ O0 D6 c1 B2 n
                            
                            
    - ]2 I0 `8 C2 r$ \4 }; M/ _' d
                            
                            

    9 W7 ]5 c2 m  y/ }0 `3 _5 A                        
    ) z2 ?5 p) s- `# o! E% c
    + ?6 l0 n: {1 {- R, J
    5、产生效益
    帮助材料生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力;明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。
    9 _, p7 E  w, \7 m" u: F' Z+ _- z2 d7 H, `2 L' o

    . z0 r8 Q8 L' F$ X& c( M$ D+ h" V6 r4 ^
    0 `$ y$ q0 K* F2 x% K
    ) D1 a( c9 A- E: W' ]- B% Y' ?
  • TA的每日心情
    开心
    2020-8-28 15:14
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2020-9-18 13:09 | 只看该作者
    都是为了降低生产成本;提高成品产品合格率及使用可靠性,降低维护维修成本,提升企业品牌和竞争力
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