|
|
EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑 ! t% u( C% s; Y, `7 M' {& ]
E9 A8 \) V( m9 }* o8 \8 X* ]
目录$ V4 Z3 n4 O) I' }
1、概述
0 |: X9 A) c/ r# y2、过去的老化系统$ t( t& _$ h0 x& J4 R6 g1 ?5 c
3、为什么要在老化时进行测试9 ]8 v; Y0 F& [
4、在老化中进行测试的好处
4 _$ N \+ W- j0 h5 A5、老化测试系统类型9 F8 w0 w, S; b; T; \
6、逻辑器件老化测试: K* i0 I/ A. b, o2 g; Y" S. ]( _. \
7、内存老化
) u: P* E/ J1 R: m- ^& |/ U8、老化测试系统性能
$ I6 y: f* S$ g- A9、结束语
* T1 Y' K6 W# D9 z4 ~- O8 d' f+ Q- j# S
% k. m4 r8 b7 e' T: T
$ o( g, @+ P" x+ M( { |
评分
-
查看全部评分
|
[复制链接]
/1 
发表于 2020-9-28 08:34
收藏
淘帖
支持！
反对！
发表于 2020-9-28 10:12
发表于 2020-9-28 09:40
