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本帖最后由 jacky401 于 2020-9-26 14:32 编辑 ) \, [# Z' u( b, T- I! t! ?- n! d
7 z0 U N/ k" g7 B目录& q$ U( s1 D, q" ?* h( Q
1、概述
' h4 U: R. Y+ p$ y2、过去的老化系统
! I. \6 Z; Z- r3 `3、为什么要在老化时进行测试# E( h8 F+ ]' I4 V* ]3 j' @
4、在老化中进行测试的好处2 h: i* C5 x& U. Y( y, h$ V& N
5、老化测试系统类型
1 x$ C. l+ x$ {# i+ @: Z! Z9 s6、逻辑器件老化测试
- s5 ]8 C" v1 M: Q7、内存老化. K* N( D, \* S
8、老化测试系统性能3 N- j% n: }9 `9 Y6 d
9、结束语
8 K ], {- ~: o! J1 X
3 K$ z- C2 L9 E! F7 f
) L1 q, e( M! E, H% c4 n" w! N( w; l) F2 W3 b/ t: n" Z9 `
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发表于 2020-9-28 08:34
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发表于 2020-9-28 10:12
发表于 2020-9-28 09:40
