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电感器失效模式及原因分析

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    发表于 2020-11-12 14:54 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    电感器失效模式:电感量和其他性能的超差、开路、短路
    , V, y- t, n# g+ q8 p  模压绕线片式电感失效机理:1 a0 g- n9 f& E1 Q$ j; {( s- C; Y
      1.磁芯在加工过程中产生的机械应力较大,未得到释放- I' y& N9 j& u) @0 F5 P
      2.磁芯内有杂质或空洞磁芯材料本身不均匀,影响磁芯的磁场状况,使磁芯的磁导率发生了偏差;8 e5 d: w; c( M
      3.由于烧结后产生的烧结裂纹;
    ! l: i) K5 K" K2 f, Z  4.铜线与铜带浸焊连接时,线圈部分溅到锡液,融化了漆包线的绝缘层,造成短路;
    + Y- p! C& U: l8 R* A8 k" m3 ?& S  5.铜线纤细,在与铜带连接时,造成假焊,开路失效: F: J. x. M- C  ~+ g
      1 耐焊性. Q) F6 T, [  b# f
      低频片感经回流焊后感量上升 20%
    7 ]4 z& u0 N# s- [1 X1 Z  由于回流焊的温度超过了低频片感材料的居里温度,出现退磁现象。片感退磁后,片感材料的磁导率恢复到最大值,感量上升。一般要求的控制范围是片感耐焊接热后,感量上升幅度小于20%。
    1 T8 M& z! M- L' D  耐焊性可能造成的问题是有时小批量手工焊时,电路性能全部合格(此时片感未整体加热,感量上升小)。但大批量贴片时,发现有部分电路性能下降。这可能是由于过回流焊后,片感感量会上升,影响了线路的性能。在对片感感量精度要求较严格的地方(如信号接收发射电路),应加大对片感耐焊性的关注。6 V  \% E5 k5 C
      检测方法:先测量片感在常温时的感量值,再将片感浸入熔化的焊锡罐里10秒钟左右,取出。待片感彻底冷却后,测量片感新的感量值。感量增大的百分比既为该片感的耐焊性大小7 [% o% p$ k* a7 z1 S
      2 可焊性
    " I  z% v$ V' z# X. ^$ [  电镀简介9 p: o( V  Q* n  O
      当达到回流焊的温度时,金属银(Ag)会跟金属锡(Sn)反应形成共熔物,因此不能在片感的银端头上直接镀锡。而是在银端头上先镀镍(2um 左右) ,形成隔绝层,然后再镀锡(4-8um )。9 ^7 z, S, D0 y" Y* M5 k: ~$ C9 @
      可焊性检测
    3 A$ \$ h) q6 V& {9 ?5 Z8 b  将待检测的片感的端头用酒精清洗干净,将片感在熔化的焊锡罐中浸入4秒钟左右,取出。如果片感端头的焊锡覆盖率达到90%以上,则可焊性合格。、
    + r  m' j* }) `3 A  可焊性不良0 u- b, Z1 I& M) k# Y0 X
      1)端头氧化:当片感受高温、潮湿、化学品、氧化性气体(SO2、NO2等)的影响, 或保存时间过长,造成片感端头上的金属Sn氧化成SnO2,片感端头变暗。由于SnO2不和Sn、 Ag、Cu等生成共熔物,导致片感可焊性下降。片感产品保质期:半年。如果片感端头被污染,比如油性物质,溶剂等,也会造成可焊性下降$ w  \- S4 ^5 g) U
      2)镀镍层太薄,吃银:如果镀镍时,镍层太薄不能起隔离作用。回流焊时,片感端头上的Sn和自身的Ag首先反应,而影响了片感端头上的Sn和焊盘上的焊膏共熔,造成吃银现象,片感的可焊性下降。
    8 @# S9 F' B# j0 d4 R: E* q  判断方法:将片感浸入熔化的焊锡罐中几秒钟,取出。如发现端头出现坑洼情况,甚至出现瓷体外露,则可判断是出现吃银现象的。
    # k0 L; H/ H  q/ F! P8 m  3 焊接不良! b# c1 X( H/ T) Q& _
      内应力% q5 t8 ^" F* \, y: T
      如果片感在制作过程中产生了较大的内部应力,且未采取措施消除应力,在回流焊过程中,贴好的片感会因为内应力的影响产生立片,俗称立碑效应。$ N7 Q/ o  n$ j, U4 Z5 g
      判断片感是否存在较大的内应力,可采取一个较简便的方法:! S8 N: a4 y, p' _" A- f0 S, I, d
      取几百只的片感,放入一般的烤箱或低温炉中,升温至230℃左右,保温,观察炉内情况。如听见噼噼叭叭的响声,甚至有片子跳起来的声音,说明产品有较大的内应力。
    7 e& T& Y. k6 ?( b- D  元件变形) i+ x# h' `" T6 f, L/ B1 a
      如果片感产品有弯曲变形,焊接时会有放大效应。& Y! P- q+ Y! W. P8 w
      a.焊盘两端应对称设计,避免大小不一,否则两端的熔融时间和润湿力会不同4 s# ~  }) A, b  v$ Z
      b.焊合的长度在0.3mm以上(即片感的金属端头和焊盘的重合长度)# M4 q. z% x, E0 c8 U& j+ m
      c.焊盘余地的长度尽量小,一般不超过0.5mm。3 @3 g% K7 z. f8 I) I( e& B
      d.焊盘的本身宽度不宜太宽,其合理宽度和MLCI宽度相比,不宜超过0.25mm
    ) Y" B' C1 _" G: V% L  贴片不良5 K+ q) g/ v0 W# ~1 A4 x- }& f
      当贴片时,由于焊垫的不平或焊膏的滑动,造成片感偏移了θ角。由于焊垫熔融时产生的润湿力,可能形成以上三种情况,其中自行归正为主,但有时会出现拉的更斜,或者单点拉正的情况,片感被拉到一个焊盘上,甚至被拉起来,斜立或直立(立碑现象)。目前带θ角偏移视觉检测的贴片机可减少此类失效的发生( y5 S- |8 N6 a, s& k* P
      焊接温度
    ( h7 g( K* m: f# U% k  回流焊机的焊接温度曲线须根据焊料的要求设定,应该尽量保证片感两端的焊料同时熔融,以避免两端产生润湿力的时间不同,导致片感在焊接过程中出现移位。如出现焊接不良,可先确认一下,回流焊机温度是否出现异常,或者焊料有所变更。6 V4 ^' S+ D' U1 d
      电感在急冷、急热或局部加热的情况下易破损,因此焊接时应特别注意焊接温度的控制,同时尽可能缩短焊接接触时间
    ( _$ q9 b0 O/ [  c/ M% n5 r  手工焊推荐温度曲线
    : j# }: C. J! N2 f7 n3 ^  4 上机开路2 F9 l# S3 `" l; E# b: h8 ^, M, X
      虚焊、焊接接触不良
    " Z: }- t; W8 @1 C5 D, U" b  从线路板上取下片感测试,片感性能是否正常
    3 M8 O! y6 J4 O  A  电流烧穿
      _; B% V9 a! G5 r0 l  如选取的片感,磁珠的额定电流较小,或电路中存在大的冲击电流会造成电流烧穿,片感或磁珠 失效,导致电路开路。 从线路板上取下片感测试,片感失效,有时有烧坏的痕迹。如果出现电流烧穿,失效的产品数量会较多,同批次中失效产品一般达到百分级以上。
    9 @0 g) x: J9 p7 T* e: w" Q  焊接开路
    0 N. i0 x  K0 N2 R: s0 \  回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,导致有极少部分的内部存在开路隐患的片感的缺陷变大,造成片感开路。从线路板上取下片感测试,片感失效。如果出现焊接开路,失效的产品数量一般较少,同批次中失效产品一般小于千分级。$ G. H3 a7 }7 E1 P4 n6 W
      5 磁体破损
    1 u& c4 o4 g8 x! |  磁体强度# c. I8 b1 j0 k) a1 y0 `
      片感烧结不好或其它原因,造成瓷体强度不够,脆性大,在贴片时,或产品受外力冲击造成瓷体破损
    ) U5 R, U  T$ E, ^  附着力
    5 m4 v/ h2 K( F* U* O* A  如果片感端头银层的附着力差,回流焊时,片感急冷急热,热胀冷缩产生应力,以及瓷体受外力冲击,均有可能会造成片感端头和瓷体分离、脱落;或者焊盘太大,回流焊时,焊膏熔融和端头反应时产生的润湿力大于端头附着力,造成端头破坏。
    % L2 U% h6 h+ S- Z+ f, T& q  片感过烧或生烧,或者制造过程中,内部产生微裂纹。回流焊时急冷急热,使片感内部产生应力,出现晶裂,或微裂纹扩大,造成瓷体破损。
    1 n* g3 m& M9 T; e( S3 Q- j+ k) _4 x5 ^# \% I

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    2#
    发表于 2020-11-12 15:29 | 只看该作者
    如果片感在制作过程中产生了较大的内部应力,且未采取措施消除应力,在回流焊过程中,贴好的片感会因为内应力的影响产生立片,俗称立碑效应
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