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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发技术版块 › 电磁兼容&安规论坛 › 金属外壳接地对CE-RE-ESD影响
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[求助类] 金属外壳接地对CE-RE-ESD影响

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官贵平
  • TA的每日心情
    开心
    2020-4-6 15:44

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    跳转到指定楼层
    1#
    发表于 2020-11-27 14:51 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    仅为个人感觉，在找理论验证，望大佬们指教。产品说明：有金属外壳，PCBA螺丝孔与金属外壳搭接，电源输入口共模电感电路滤波。# k" s0 `: q7 g5 C) Y& j' s' l
    % K0 m6 O% P8 B1 T- _5 \1 O
    产品金属外壳接地测试，辐射↓，抗静电↑，传导↑
    6 ~2 F8 w% B, d( w产品金属外壳不接地测试，辐射↑ ，抗静电↓，传导↓+ Q3 h6 i- q: Z. [! Q1 x* b  e
    " p+ h4 Q; m- O! k

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    sdkangbaz

    该用户从未签到
    2#
    发表于 2020-11-27 15:24 | 只看该作者
                                                

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