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1、简介0 _' O. {6 l5 N9 }- {
随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。
; t& j# T9 J7 F* e1 {. J0 h! v$ v' T' V+ O
0 W x* B0 ^: ?8 w x2、服务对象% g: E# k% H* Q* U8 `
印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件, PCB&PCBA可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。 3 d% N# n$ R: C0 Y
) Y8 c6 K/ ~- k. v! M* ], o3 F: t S
3、失效分析意义4 |9 V$ V, w5 _2 a
1. 帮助生产商了解产品质量状况,对工艺现状分析及评价,优化改进产品研发方案及生产工艺;
; v) [9 a! H% \* ?' F3 r5 _2. 查明电子组装中失效根本原因,提供有效的电子组装现场工艺改进方案,降低生产成本;8 {$ j0 q* J; Y+ l8 ^1 c
3. 提高产品合格率及使用可靠性,降低维护成本,提升企业品牌竞争力;+ M, Q& \1 B w' c& a( a6 g7 f
4. 明确引起产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。
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2 J H% Q$ i: V H4 t# G# v, f# }) j* Y) R6 @
分析过的PCB/PCBA种类:
: V" Z. e% W Q, |0 |/ U) O" ~5 E3 \刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板7 V6 G$ F% I- K* O
通讯类PCBA、照明类PCBA# O% ~2 P4 R( h+ E8 c. K4 i* D% U7 [# f
$ ?5 L, L3 `2 W, }7 @: d- n0 @" a2 ~6 x: Q
4、主要针对失效模式(但不限于)8 q4 I- E6 L* E# U: y. D
爆板/分层/起泡/表面污染
0 z4 p5 C- J6 c% o开路、短路) B2 x' y3 }& U
焊接不良:焊盘上锡不良、引脚上锡不良
+ h; ?* C. N ~3 x. i腐蚀迁移:电化学迁移、CAF
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5 W8 |3 \ F0 j7 F+ W5、常用失效分析技术手段2 p' ]% K4 X) f. d* s1 h3 G7 J
成分分析:
, t" w. v' x& E) E显微红外分析(Micro-FTIR)
+ w4 w' F0 f3 S# Q扫描电子显微镜及能谱分析(SEM/EDS)
0 ?0 C* x! d! p& A5 H! \俄歇电子能谱(AES)
5 W+ N, ~1 f, j! A9 k) u/ E飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
) @0 _ h ~4 s! z热分析技术:
9 }8 E- i: g0 V8 R/ u差示扫描量热法(DSC): l" ^4 [ x8 F" S$ I/ j, x
热机械分析(TMA)
2 L4 I+ _; {+ v5 M! O3 N( I$ n热重分析(TGA)
8 L3 {. h) R: V Y+ s动态热机械分析(DMA)9 T- t0 ~. F% R' R0 [9 Z3 Z; l' D# c, s
导热系数(稳态热流法、激光闪射法)
( i( O( _' k1 z h* A; U- ^0 ]; e$ f% T离子清洁度测试:
) d) Z$ l; J+ u9 F( SNaCl当量法) G+ J* G3 ?. C$ }) h
阴阳离子浓度测试7 J$ F6 n2 d3 c2 C
应力应变测量与分析:' V; {6 A7 w3 M$ L( ?5 S
热变形测试(激光法)1 m, m/ [; t- Q! W+ [- n3 {- O
应力应变片(物理粘贴法)
4 l: w7 f7 d4 W8 E4 @* J2 l破坏性检测:
$ W- ~: L) F( S金相分析# b- ]% E8 P# ~5 ~; Q: Q8 i
染色及渗透检测
. _! P3 T! [% P聚焦离子束分析(FIB)" {4 C5 l- c% v4 j a( r* X; }
离子研磨(CP)5 c) k0 A3 o- K8 `$ Q9 e6 y9 W, Q" v
无损分析技术:- b; m: n2 {- o4 i
X射线无损分析
5 a+ B/ Q5 o8 m. H4 U电性能测试与分析- X+ z: m/ m2 [+ O- f0 d1 D4 l
扫描声学显微镜(C-SAM)" u. s$ E+ Y# N9 C$ d i
热点侦测与定位7 K$ Y8 U( d& W# ?* m3 L) e
失效复现/验证
5 |1 x$ W( j* M/ `! U9 r. w- |% [$ p6 J- r/ J- W# f
% Y+ X, i2 `) f9 Y3 t' e: {$ {. z, z
7 c! w& s1 ]0 w# r' b' n4 X |
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