TA的每日心情 | 怒
2019-11-20 15:22 |
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一种低功耗双重测试数据压缩方案
1 @. a" X# }! C摘要:随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输人精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试集中的确定位数量,之后再进行第一级压缩,即对测试向量按多扫描划分为子向量并进行相容压缩,压缩后的测试向量可用更短的码字表示;接着再对测试数据进行低功耗填充,先进行捕获功耗填充,使其达到安全阈值以内,然后再对剩余的无关位进行移位功耗填充;最后对填充后的测试数据进行第二级压缩,即改进游程编码压缩.对ISCAS89基准电路的实验结果表明,本文方案能取得比golomb码, FDR码,EFDR码,9C码,BM码等更高的压缩率,同时还能协同优化测试时的捕获功耗和移位功耗.0 z! x8 ^- Z2 u
关键词:测试向量相容;低功耗测试;测试数据压缩;双重压缩
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发表于 2021-6-21 10:15
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