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[仿真讨论] 无故障高速电路设计的信号完整性分析

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    2019-11-19 15:29
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    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2022-4-8 14:21 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    在高速电路设计中,元件和元件封装可能影响芯片内以及PCB的信号完整性。实际上,信号完整性包括一组确定信号质量的测量值,作为分析和减轻噪声,失真和损耗影响的一种方法。这是一组设计实践和测试,有两个常见的信号完整性电路设计问题,即信号的时序和质量。信号应按预期到达目的地吗?到达那里后状况?7 ]% c; S0 S8 s

    * v9 I  S+ J4 t- a
    2 s0 h# F' X  P! `( ^( D; r
    6 p6 @7 _8 ]4 Y' s/ _( d在高速电路设计项目中,信号完整性(SI)是获得设计成功的必备条件。因此我司会对设计的电路板进行信号完整性分析,以确保产品完整性和无故障高速电路设计。而我们的信号完整性分析如下:
    ! w, l9 ~% ^! J4 F: P7 I& c$ ^1 r4 e& E+ R7 Y
    1、布线前后的高速信号完整性分析和仿真: \: ~# }) L* J. }! I" A
    ! b! o2 Y. z$ o- ~6 [
    2、28GHz +收发器和40GHz +封装级仿真' |0 q$ y9 c: W4 c  s7 {2 d) X

    # `" k3 T- N0 \# J; o3、信号完整性驱动的层堆栈和约束生成
    7 h' A3 v9 p( v6 n3 A* c& y) D) _  o2 Z$ n2 y7 x5 g$ X
    4、针对复杂拓扑的网络调度和设计优化,例如多点总线(DDR3,DDR4)8 g1 ~, S/ G4 p- n" ^' S

    6 }- n! Y& E9 z$ x- r) h8 V6 j5、减少反射和串扰,以改善时序裕度和发射
    5 F: o) q1 n7 A4 ~+ t3 ~
    - x  `% B1 d- o5 i3 l7 P6、优化去耦,实现电源完整性和较低成本
    2 ?5 }* o+ h3 o" Z
    1 x5 [# M+ k  d- B4 R( }7、同时考虑开关噪声和设计策略
    " g- V! ^, I) |/ a2 p' }! h* L7 |3 W% s% L9 J; o9 U9 w# h
    8、组件和系统特性,包括完整的S参数,增益和噪声系数优化
    ' y! F4 L& x( a, Z! j( y! ~1 w! M- o* u
    9、针对敏感信号和监管批准的屏蔽设计和分离平面优化  M# w3 a. w1 l+ e( `4 J" r/ N

    2 W7 p# ]  A. G' h9 ]! M; S10、比吸收率(SAR)分析

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    2#
    发表于 2022-4-8 16:10 | 只看该作者
    无故障高速电路设计的信号完整性分析

    该用户从未签到

    3#
    发表于 2022-4-8 16:58 | 只看该作者
    信号完整性包括一组确定信号质量的测量值,作为分析和减轻噪声,失真和损耗影响的一种方法
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