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1、电子产品,特别是军用稳压电源的设计是一个系统工程,不但要考虑电源本身参数设计,2 J% H* G) b( M2 k' {# c
还要考虑电气设计、电磁兼容设计、热设计、安全性设计、三防设计等方面。因为任何方面那. O( s; i; @6 G1 y2 ~
怕是最微小的疏忽,都可能导致整个电源的崩溃,所以我们应充分认识到电源产品可靠性设计
. Z( v$ K) D% ?8 t' x的重要性。
3 H% o; l% I4 x! ~0 Z* \2 开关电源电气可靠性设计
" Y$ j; K; `+ W. w6 X* k( {2.1 供电方式的选择8 y! P9 \2 Z& W' o" s3 I
集中式供电系统各输出之间的偏差以及由于传输距离的不同而造成的压差降低了供电质
) M0 U5 o, J# b* A量,而且应用单台电源供电,当电源发生故障时可能导致系统瘫痪。分布式供电系统因供电单5 N- B) v F7 a$ l q; J' H
元靠近负载,改善了动态响应特性,供电质量好,传输损耗小,效率高,节约能源,可靠性高,5 F8 s6 f6 X! H* C1 z. \, [) P
容易组成N+1 冗余供电系统,扩展功率也相对比较容易。所以采用分布式供电系统可以满足高
, l* {7 f; z6 l4 g- x可靠性设备的要求。
+ U7 [9 X4 f+ t3 @) ]2.2 电路拓扑的选择
/ E- m5 Q/ J+ d3 C8 q7 K" h2 c开关电源一般采用单端正激式、单端反激式、双管正激式、双单端正激式、双正激式、推
3 h: z k+ F9 |6 ]3 F# l: H0 V x( j挽式、半桥、全桥等八种拓扑。单端正激式、单端反激式、双单端正激式、推挽式的开关管的
, t: {; C3 P% P$ r7 `3 J承压在两倍输入电压以上,如果按60%降额使用,则使开关管不易选型。在推挽和全桥拓扑中/ B5 A: V3 y: R& Y0 _4 t) v
可能出现单向偏磁饱和,使开关管损坏,而半桥电路因为具有自动抗不平衡能力,所以就不会) V( p. q, c" m: x$ B, Q4 ^
出现这个问题。双管正激式和半桥电路开关管的承压仅为电源的最大输入电压,即使按60%降' U) r+ C( Z5 ^$ |. ~* q* {
额使用,选用开关管也比较容易。在高可靠性工程上一般选用这两类电路拓扑。
. T* p' A: c2 t7 \3 l2 X1 } M2.3 控制策略的选择
. I% B% M: }( c% B7 i在中小功率的电源中,电流型PWM 控制是大量采用的方法,它较电压控制型有如下优点:
4 n, w8 Q( a, Y( G0 L4 E0 q; S逐周期电流限制,比电压型控制更快,不会因过流而使开关管损坏,大大减小过载与短路的保5 _( W1 t3 ]( x. ?
护;优良的电网电压调整率;迅捷的瞬态响应;环路稳定,易补偿;纹波比电压控制型小得多。
; ?7 C$ D7 t% V生产实践表明电流控制型的50W 开关电源的输出纹波在25mV 左右,远优于电压控制型。硬开关
* ^# b- L6 a' t8 {技术因开关损耗的限制,开关频率一般在350kHz 以下,软开关技术是应用谐振原理,使开关器
' ~/ _9 z1 d5 R K4 M件在零电压或零电流状态下通断,实现开关损耗为零,从而可将开关频率提高到兆
6 F3 p1 R) t7 e赫级水平,这种应用软开关技术的变换器综合了PWM 变换器和谐振变换器两者的优点,接近理3 r D$ x: \( {# [" v5 E% [
想的特性,如低开关损耗、恒频控制、合适的储能元件尺寸、较宽的控制范围及负载范围,但
# I9 H: i% X! ~; `' B3 R* M是此项技术主要应用于大功率电源,中小功率电源中仍以PWM 技术为主。2 e1 D" k9 L0 l. |- f0 M( m& P
2.4 元器件的选用7 l% \& K1 |5 g) E& |; Y
因为元器件直接决定了电源的可靠性,所以元器件的选用非常重要。元器件的失效主要集
# \1 H2 }/ t& C+ B$ P1 Q: [* a中在以下四个方面:
- T+ y) Z7 j) X(1)制造质量问题
. k2 e# h, Z3 K0 F/ I质量问题造成的失效与工作应力无关。质量不合格的可以通过严格的检验加以剔除,在工
) z& w0 ~. ?. U+ S+ `& v: E8 f a/ r程应用时应选用定点生产厂家的成熟产品,不允许使用没有经过认证的产品。+ B/ |; a) g6 r3 t; ~. d
(2)元器件可靠性问题
5 |8 F! p5 i5 f* I* T# i元器件可靠性问题即基本失效率的问题,这是一种随机性质的失效,与质量问题的区别是
4 O. [: P& J- _; E6 s$ i元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下,元器件的失效率会大大下降。为1 D- K- y9 m2 Y$ s
剔除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、0 K- m+ E1 h- B' G
早期失效等,应进行筛选试验,这是一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1~2
6 ]% H7 O$ v) r! I {$ f) r个数量级,当然筛选试验代价(时间与费用)很大,但综合维修、后勤保障、整架联试等还是合
) W( W$ F& h+ Q# J5 p算的,研制周期也不会延长。电源设备主要元器件的筛选试验一般要求:
3 s8 V( `' M$ L" x* Y0 m2 _4 b, q5 B①电阻在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。
9 c0 v$ e+ B o _2 K- l& ]②普通电容器在室温下按技术条件进行100%测试,剔除不合格品。
) |, I0 e" \+ G/ S③接插件按技术条件抽样检测各种参数。# l$ v5 F' `& M! X% [3 P
④半导体器件按以下程序进行筛选:
: u( b: f5 z* c' x! q* J* Y# g目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试→低温测试→常温测试 |
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