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昨天我和同事参加了2011安捷伦光器件测试研讨会,该研讨会安捷伦公司工作人员主要介绍了以下几个方面:
# J3 C; | n$ R3 R7 K. z7 d+ f1.介绍了光通信市场的发展前景以及安捷伦针对光通信的发展而研发新产品和针对新仪器提出新的测试方案的概述。
, W% N5 D9 a$ Z- b: n4 E4 }2.简单介绍40G/100G测试挑战以及安捷伦复杂的光调试测试方案。
3 p' e5 e, j/ c! x5 p, d: j* z; D3. 高速光接收机压力眼测试。
; |+ j; W, T6 @3 H" @4. 光无源器件的测试技术及安捷伦针对多端口器件IL/PDL的测试新方案。' c& R4 z e5 a
5. 如何提高光收发模块的生产测试效率。$ H m& W- H6 P
回顾昨天培训的内容安捷伦公司工作人员主要是针对光器件测试方面作出了主要讲解,测试中用到该公司的那些设备,这些设备和DUT怎样搭建测试平台,用他们公司提供的软件怎样通过PC控制相关测试设备来完成测试工作,其次主要讲解了搭建测试环境测试设备的工作原理以及测试设备内部怎么有效的捕捉数据处理数据所用到理论:如高斯分布,穆勒矩阵等,最后讲解了其公司对其相关仪器的操作界面Flex DC,其界面更加实用,操作更加简单,附加功能增多,可以同时测试很多测试项目提高了测试效率。' f6 o) m, f0 Q J1 Z7 c
对我们而言,安捷伦光无源器件的测试技术及安捷伦针对多端口器件IL/PDL的测试新方案这是我们比较关注的,首先主要讲解了测试光无源器件环境的搭建,测试的理论以及测试项目如:IL和PDL等,IL是器件的插损;PDL是偏振相关损耗;其次主要讲解了针对测试项目IL和PDL几种不同的测试方法以及安捷伦仪器内部处理数据的方法等。3 i, f4 O+ p/ \; ]
听了这次讲座对于我们以后测试光无源器件会有很大的帮助。
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