RF测试座和ANT ipex layout问题&功率测试差异

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最近遇到项目问题，TX POWER 测试，在RF测试座处和IPEX 座处功率差异，高频竟然查将近2dbm，两者之间只有一小段trace和一个L型匹配，将通路调至50Ω后，高频功率测试仍然差1.3dbm。

请教一下高人，IPEX 下面 layout时候一般都挖几层啊？ RF测试座下面也要挖空吗？
是什么原因导致两者之间得功率测试差异这么大，用网分量了两者之间得loss 也只有0.3db左右。
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名字好听吗

其实走线只要做了50ohm，测试座和同轴线座子下面挖不挖差别不会太大。可以把IPEX座子去掉，焊猪尾巴测测看，焊的时候接地要尽量靠近信号。

VIC56

你的I-PEX是用那种扣线测的？还是呈标的标准测试线？那种几块一根的扣线，测高频，测多几次不准的概率极大，吹掉焊根铜管看一看；
0 _$ ~7 [) L; W+ `; K; k# a) s另外，注意你的射频线，是不是下方扣地了？如果扣地了，线离两侧地太近，对高频也会有影响的。

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IPEX一般而言   因为焊盘较大    就算挖空到两层都不为过
你去计算阻抗就知道  即便挖空2层   50奥姆线宽
7 F3 X/ R5 @4 [: J  W5 ?/ u7 y6 r" s都还比IPEX焊盘细  
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至于RF测试座   则看焊盘大小  如果跟50奥姆线宽差不多  那就不用挖
; Y; U$ `- v1 M' z总之  焊盘挖空的用意是
; F) U8 U6 T& \6 M4 ]& y. i  d. S0 e& E
  c  \+ J9 E! y( q  R1.        阻抗接近50奥姆
% V- j2 u' ~' ~* }2.        降低寄生电容
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先满足1再来谈2   不然如果焊盘大小跟50奥姆线宽差不多
你硬挖空   寄生电容是降低了没错   但阻抗高于50奥姆
这样不会比较好  不用想说匹配调回来   没这么万能

至于你说调至50Ω  用网分量了两者之间得loss 也只有0.3db左右
& Y8 l' A4 Y* f! B4 w" f这个都是你用铜管量出来的  没考虑到测试座本身的影响
建议你用测试座去量   才会比较准
; n# S2 R9 v8 u8 k0 B* w7 s! O因为焊盘没挖空的影响    要用测试座去量  才会显现
# d5 h3 U& d  d9 R7 k8 m用铜管去量   是显现不出来的
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