HFSS中波端口尺寸的设置有指标进行评判？

mengzhuhao

8 x9 \* s  O/ |/ D( a7 N) c
7 A8 `2 u( O* S* A4 ?! Y2 Q  uHFSS中波端口尺寸的设置有指标进行评判？

因为波端口尺寸设置的不合理，可能得出错误的结果，并误导理解

那么在设置于测试中，对于尺寸的变化关系有没有一个比较定性的指标要求？

* n: P" w, y  ~2 K6 v例如计算微带传输线端口阻抗值的时候

mengzhuhao

在看full book的例子中
' s( ?% T* S) \) d5 `2 T只看到一个关于波端口尺寸变化影响高次模的例子

peijing

http://home.educities.edu.tw/oldfriend/
) X; P) {( x2 u我觉得这个讲的不错

Xuxingfu

4 `$ `1 a) |& h7 o
! @% Q( n8 Y9 Y( O/ k+ }( I+ R对于微带电路，波端口的下方边缘必须与GND重合。
$ q$ C6 f8 M2 E7 L8 D0 v, F假设微带宽度W, 介质厚度H, 则波端口高度一般6~10H. 当W>=H,宽度一般设置为10W, 当W<H；宽度一般设置为5W或3~4H.

mengzhuhao

Xuxingfu 发表于 2012-4-28 09:04
对于微带电路，波端口的下方边缘必须与GND重合。
2 Y7 v) Z1 Y$ A* n2 r: m8 ^5 V* T假设微带宽度W, 介质厚度H, 则波端口高度一般6~10H. 当W> ...

应该不是重合，是接触GND的上边沿
1 L9 [7 s7 }: H$ d7 u4 V' j  y
1 ?; b9 l9 @9 U# O% l这个在实际仿真中宽度与高度的设置差异还是很大的

例如你试试仿真
10mil线宽，2mil厚，介质从10-60mil  步进10mil

" Q! @# i0 B6 @+ M/ c$ k* q如果设置的不太合理，得出的结果跟polar差异也不小
' f! S  U9 ~+ z
目前没有太好的标尺还判定
8 C! h8 W! S, X6 r& [$ i) |! L- e, Y
$ C* Y4 j* _& f只能先依据polar算出的阻抗值，参数扫描波端口的高度于宽度，逼近polar算出值时的尺寸

yuxuan51

为啥你就认定polar值就是对的？

Xuxingfu

* z0 G1 ^$ ]1 S0 `( ^% m) S" W! v
楼上问的好！居然用专业的工具向不专业的工具去靠近....意义何在？

, G) a6 i5 j& d; I% y6 H: Epolar si9000采用的是边界元法BEM,（这种算法缺点和局限性比较多）但简单易用，适合Layout人员使用的。   
但真正专业的是HFSS, HFSS的有限元算法FEM是流行和比较准确的算法， 适合电磁场人员使用。
3 X& M7 T1 p9 L2 |( B7 P5 b2 c3 ?
% }8 J  b( j7 W* e4 `9 p( D验证仿真结果的手段只能是测试测量。

' P/ O8 Z0 ^5 H: t9 `3 j

yuxuan51

7 a9 f& P$ j% U' X- t0 I2 v

Xuxingfu 发表于 2012-4-28 12:26
楼上问的好！居然用专业的工具向不专业的工具去靠近....意义何在？
+ |9 I; R, d, K  h% `- W3 V
) E! U8 e3 I6 u$ npolar si9000采用的是边界元法BEM,（ ...

1 a+ U/ p8 E8 F! \0 b+ U, E
首先数值算法上的差别肯定存在的，在结构均匀的传输线上可能结果不会差太多

我一开始的本意倒不是指的数值算法方面的。阻抗本身是物理结构与信号频带的一个共同作用结果，polar在计算阻抗的时候是基于理想的情况或者是某一特定情况，要是为理想情况的话则它的阻抗是在假设信号接近于无穷大的带宽得出来的。而HFSS在扫频频带时一般总有一个Fmax，也就是说得出的S参数是基于一个截止频率的，是有限带宽的，显然HFSS基于S11参数计算的特性阻抗值是针对于你的扫频宽度来说的，所以我们平时所说的特性阻抗最好在加上一条定语，即在某个信号上升时间下的特性阻抗

“验证仿真结果的手段只能是测试测量”，我还是蛮认同这句话的，不过仿真主要基于理论计算，很多条件和实际情况都是不太一样，所以得出的对比结果会经常让人郁闷的{:soso_e115:}

mengzhuhao

O(∩_∩)O哈！  我并没用用专业工具向不专业工具去靠近的想法
. [) \  ]) _, M0 _只是为了验证波端口设置的方法，并期望朋友一起交流实际应用中的方法
1 o* _4 i3 v) F0 A# H' R3 W
只是在没一个精确理论与标尺支持下，感觉比较困惑

  s, l! v  g5 s- g; k从实际参数仿真的结果看，如果按给出的那个规则去算不同情况下的阻抗，比例关系可能有差异，得出的结果也不太对
5 v; i3 q8 f6 C4 R2 s. R9 t7 {! c1 K
+ R' q; c) @' y6 X因为那个文档也说了，不要把所列的那个规则当标准，可能实际还需要改动

) l$ C, s+ r* j- @所以问题就集中在更合理的规则应该是什么
6 h4 `( Y+ W* p
假设我进行参数扫描的话，观察那些值的变化来判断是否到一个比较精确合理的区间

mengzhuhao

yuxuan51 发表于 2012-4-28 11:56
1 p7 u( k2 Y2 e3 t为啥你就认定polar值就是对的？

9 w* f. U8 R) w肯定没认定对的 O(∩_∩)O哈！
) ^6 O5 I/ F* p2 C; {4 T  H* r" p就是作为一个方便评估自己方法的工具而已喽

mengzhuhao

我个人感觉polar算的阻抗可信度还是比较高的
它应该也考虑了一些实际工艺的因素
8 ~; M  e6 L1 `* y# s
用它得出的值 可以快速判断自己的设计是否存在问题
! A5 l! E% E8 E& g8 x0 t) ~
如果用电磁仿真算出的值差出好多欧 理论上我感觉 就是肯定是设置上存在问题了

因为波端口的尺寸关系比例影响比较大
  U2 E  u" j5 j+ N- O
3 m* E6 n$ _2 {4 l# x不知道这样的想法是否正确

大家一起讨论看看吧

stupid

SI9000几乎是板厂默认的阻抗计算软件，参考了很多IPC的规范，还是比较准确的。如果光从仿真来看，不同算法的差别还是有限的，但是跟实际比起来差距就太大，主要是：
* b; k" P1 _# |) X
. X5 g. T1 r0 G- [1. 阻抗跟工艺的关系非常密切，只有精密制造才能严格控制阻抗
. ^% N% j( z" S7 `3 S2. 信号感受到的阻抗跟上升沿密切相关，换到频域，就跟带宽有关