本帖最后由 超級狗 于 2025-4-22 17:07 编辑
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狗弟想了一下該怎麼解釋會比較容易懂,咱們就先從臨界電壓(Threshold Voltage)的定義及測試方式開始吧!
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' l; `, \# E5 ^. D, E3 C* u% QVGS(th) 和 VDS v.s. ID 曲線都是用 SMU (Source Meter Unit) 量測的。
3 j( p) R, M0 k, ]: h' cMOSFET 臨界電壓(Threshold Voltage)VGS(th) 定義
VDS = VGS 情況下,ID ≥ 250μA 的 VGS 電壓。(注意 Datasheet 上面有寫測試條件 VDS = VGS。)
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臨界電壓(Threshold Voltage)VGS(th) 的量測方式(僅為舉例說明,實際量測方式看儀器的作法。); - VDS = VGS = 0.1V,檢查 ID 電流是否等於或大於 250μA。
- VDS = VGS = 0.2V,檢查 ID 電流是否等於或大於 250μA。
- VDS = VGS = 0.3V,檢查 ID 電流是否等於或大於 250μA。
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… .. . 參照之前線性區(Linear Region)及飽和區(Saturation Region)附圖,測試就是約略沿著二區域中間那條藍色虛線分界一路測上去。只要你可以找到一個 VGS 電壓點能讓 ID ≥ 250μA,你就能宣稱那是臨界電壓(Threshold Voltage)VGS(th)。由於每顆 MOSFET 單體多少都會有些差異,所以就會得到類似 VGS(th) = 0.7V ~ 1.1V 這種結果。 0 d/ `0 ~. q& `" s# s$ u
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