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大电流模块短路试验

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  • TA的每日心情
    奋斗
    2020-7-17 15:39
  • 签到天数: 13 天

    [LV.3]偶尔看看II

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    1#
     楼主| 发表于 2025-11-4 17:19 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    我有一个大电流模块,电流大概200A,需要六个MoS管并联,我有三个方案,一个方案是三个一组,分为两组,用两组开关去控制两组MOS管,每个mos管带独立的栅级电阻还;有一个方案是用六个开关去控制六个MOS管;第三个方案是用一个驱动信号去控制六个mos管,六个mos管都有独立栅级电阻,我想问一下,在做短路试验的时候,这三种方式,哪个更容易造成MOS管的损坏?

    “来自电巢APP”

    点评

    谢谢分享!: 5.0
    谢谢分享!: 5
    全看哥的目的,看你是想弄死它,還是讓它在測試後存活下來。^_^  发表于 2025-11-5 14:23

    评分

    参与人数 1威望 +5 收起 理由
    超級狗 + 5 算是個不錯的問題!

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  • TA的每日心情
    奋斗
    2025-11-4 15:00
  • 签到天数: 57 天

    [LV.5]常住居民I

    2#
    发表于 2025-11-4 20:04 | 只看该作者
    我的看法是,有200A的mos,价格不贵,用一个,直接控制即可。

    评分

    参与人数 1威望 +5 收起 理由
    超級狗 + 5 觀念正確、但 KW 級需要鱷龜般大的 MOS 管.

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    该用户从未签到

    3#
    发表于 2025-11-4 22:26 | 只看该作者
    本帖最后由 超級狗 于 2025-11-5 09:18 编辑
    " ?% h* [  X3 w/ B1 {0 K6 \3 [. n) q
    爽乎?4 o+ Y8 M0 n0 _

    1 T2 L5 ~; j) G, h# J; h重點不在於你做不做短路測試,每個 MOS 管的特性都不一樣(開關速度導通電阻...等),如果開關時間不一致,平時工作就有可能會往生,不用等到短路發生。  s! |( F. c3 G9 G/ Y* U
    . g" t6 e8 H& I# |8 _$ o1 @6 m
    • 一次要推多顆 MOS 管,Gate Driver 的驅動能力需要注意。
    • MOS 管儘量選擇同一個批號,特性會較一致。
    • 需要追加過流保護OCP)機制。
      " C" `7 y$ @% [8 t* v8 M; W
    * D8 x2 z* }* Y" V& u; ]
    踢哀TI)參考設計 TIDA-00364
    ; s/ n$ D: F: A* j7 z
    ' m/ Q" M8 }( D
    TIDA-00364 reference design | TI.com$ `" H; C+ v) t+ i4 ^
    % t4 n. d6 T" t% j

    4 N1 z- w# z6 V" C$ J

    5KW Power Stage Reference Design.jpg (30.13 KB, 下载次数: 1)

    5KW Power Stage Reference Design.jpg

    slpa020.pdf

    593.65 KB, 下载次数: 1, 下载积分: 威望 -5

  • TA的每日心情
    奋斗
    2025-11-5 15:08
  • 签到天数: 13 天

    [LV.3]偶尔看看II

    4#
    发表于 2025-11-5 09:33 | 只看该作者
    在短路试验中,方案三(单驱动信号控制六个 MOS 管)最容易造成损坏,方案二次之,方案一相对最安全。

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2025-11-5 13:11 | 只看该作者
    ; v3 D# [$ s! L% C; C1 u
    虐死劈你呀NexperiaCurrent Sharing 技術介紹: l6 `7 o4 v/ ^3 R) q
    在并联两个或多个 MOSFET 以实现高电流能力和降低导通损耗的过程中,设计人员往往难以确保在导通与关断阶段,负载电流可在各独立器件间均匀分配。VGS(th) 值最低的MOSFET 会最先导通,进而承受更高热应力,可能会加速器件失效。为保障足够的安全裕量,工程师通常会对终端应用中所用 MOSFET 的规格进行过度设计。这种方式不仅会增加成本、消耗更多时间,还需开展额外的测试,但仍难以保证器件在高负载电流(数十安培级别)场景下具有稳定表现。另一种方案是向供应商采购经过筛选匹配的器件,但同样会增加终端应用的整体成本。
    2 x5 P6 w  ]1 ~# K5 S& G# L  X9 k: q5 p7 B- L. _. L, U6 |' a6 j6 u# u
    Nexperia PSMN1R9-80SSJ 和 PSMN2R3-100SSJ ASFET 凭借优异的特性和增强的动态均流功能,可帮助设计人员规避上述两种方案的局限。在导通/关断过程中,针对单器件电流达 50A 的应用场景,这两款开关能使并联器件间的电流差值减少 50%;同时,VGS(th) 参数差异范围缩小 50%(最大值与最小值仅差0.6V)。这一特性结合 1.9mΩ 或 2.3mΩ 的低 RDS(on),有助于在功率开关应用中提升能效表现。 ' s; N/ p/ n) M0 U# m% r2 i

    & R% {& }/ k4 m& h! RNexperia专用MOSFET为高功率工业应用提供增强的动态均流功能 - 半导体器件(产品通报)-全球企业门户-产通网5 c$ [) C: |9 U

    - O! R" }2 s4 p8 @( Q+ h! i
    * F% y2 k- O0 t& f3 o7 x4 o, r& m
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