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本帖最后由 李秀芳 于 2012-12-4 14:40 编辑
$ W$ a; v" y6 O' j# @8 w
# _% Q- |" p$ t+ @! Z2 B& \一、确保PCB网表与原理图描述的网表一致0 f" x/ l- C8 O) |! ?; K
, ]9 E( ?/ b: R4 y* V' O# l
二、布局大致完成后需检查5 @% a' f$ o; i# e# \4 v
% w. R. n) M8 Q4 L
外形尺寸
M$ Y1 E) ?; t确认外形图是最新的 b! Z7 H" o7 b
确认外形图已考虑了禁止布线区、传送边、挡条边、拼板等问题 $ s# o& q0 [. A, I& b* D' H
确认PCB 模板是最新的 ( x: R' p- T( M3 K4 A4 `+ F
比较外形图,确认PCB 所标注尺寸及公差无误, 金属化孔和非金属化孔定义准确 % b6 b+ ~6 @" l% ^" P' ~5 Y
确认外形图上的禁止布线区已在PCB 上体现 # f; ~, }+ |( d4 o6 a% f. Y) s5 w
布局
- B1 B: {& w% q# |: m. M+ L6 G' }& U数字电路和模拟电路是否已分开,信号流是否合理 4 A" U6 _$ p3 k9 b9 e
时钟器件布局是否合理 G) H) O7 T( |- B' X
高速信号器件布局是否合理 + C# ^- l, g) I2 p
端接器件是否已合理放置(串阻应放在信号的驱动端,其他端接方式的应放在信号的接收端) ' a5 n+ F. M, G, @3 a! Y" {4 z
IC 器件的去耦电容数量及位置是否合理 ]+ H1 o& G% R. b. V
保护器件(如TVS、PTC)的布局及相对位置是否合理
0 I. R! x+ n, r$ O9 F) z0 Q- @是否按照设计指南或参考成功经验放置可能影响EMC 实验的器件。如:面板的复, i/ g9 c- V9 T* u. y' ^9 J
位电路要稍靠近复位按钮 " X9 d3 r8 v% E8 x7 F- h3 P
较重的元器件,应该放置在靠近PCB 支撑点或支撑边的地方,以减少PCB 的翘曲 5 ^- z' a# D0 F* G1 b, U6 J1 F
对热敏感的元件(含液态介质电容、晶振)尽量远离大功率的元器件、散热器等 N4 g' \# c T( X! `
热源
% @# u! ~9 o! j( K+ w J% K7 j器件高度是否符合外形图对器件高度的要求
* @% m0 u* T5 e# _压接插座周围5mm 范围内,正面不允许有高度超过压接插座高度的元件,背面不
+ ~& a8 s) j6 q允许有元件或焊点 ( S3 Q' I6 p/ b4 r: h
在PCB 上轴向插装较高的元件,应该考虑卧式安装。留出卧放空间。并且考虑固
( n8 _$ t. d& h$ f定方式,如晶振的固定焊盘 4 D. \' s, \1 A* W7 {& g8 M- l
金属壳体的元器件,特别注意不要与其它元器件或印制导线相碰,要留有足够的/ u' Y0 ^5 O" T" e
空间位置
- o1 o2 p& c. t' \" ?8 z- d母板与子板,单板与背板,确认信号对应,位置对应,连接器方向及丝印标识正确 0 i4 v/ y% e8 i& B2 x; f( f
打开TOP 和BOTTOM 层的place-bound, 查看重叠引起的DRC 是否允许 , m5 k* P$ C# P; X
波峰焊面,允许布设的SMD 种类为:0603 以上(含0603)贴片R、C、SOT、
/ N E- K T$ H. I _SOP(管脚中心距≥1 mm) 0 v0 E6 ^& D. R% t" a* y
波峰焊面,SMD 放置方向应垂直于波峰焊时PCB 传送方向 2 m0 L' l2 G) K( p; Z& y
波峰焊面,阴影效应区域为0.8 mm(垂直于PCB 传送方向)和1.2 mm(平行于 {7 j$ i0 R D7 J! m g$ n1 s" _% E
PCB 传送方向),钽电容在前为2.5mm。以焊盘间距判别
2 W. C2 U, J3 J- P* Z6 o3 U元器件是否100% 放置 5 A9 i5 {" r# F7 C
是否已更新封装库(用viewlog 检查运行结果)
* [' J# ^+ y3 w* H/ v: J9 g器件封装 1 L) W$ m% b3 t& ?( P
打印1∶1 布局图,检查布局和封装,硬件设计人员确认
3 x/ G8 f4 j/ r. i- u0 v* K器件的管脚排列顺序, 第1 脚标志,器件的极性标志,连接器的方向标识
: D% |. \) ?" _; B1 E% y器件封装的丝印大小是否合适,器件文字符号是否符合标准要求
4 i2 e( }& Z# }: Y插装器件的通孔焊盘孔径是否合适、安装孔金属化定义是否准确
0 H, J0 O) b$ V% `' s; f表面贴装器件的焊盘宽度和长度是否合适 (焊盘外端余量约0.4mm,内端余量约
* I" g' s# M- V7 P0.4mm,宽度不应小于引脚的最大宽度) - u6 _ F! S3 N
回流焊面和波峰焊面的电阻和电容等封装是否区分 5 W5 R! k$ Q' e; w& l- V, {
三、布线大致完成后
h4 s( Y* d" t1 W5 c$ J- W5 O% d1 p1 u0 }7 p/ z
EMC与可靠性
' c8 y' H1 t2 E0 c; d9 F布通率是否100%
# P7 n7 u$ J/ C! y7 c时钟线、差分对、高速信号线是否已满足(SI 约束)要求 7 j7 B9 \- ~; F; a$ @. e/ V
高速信号线的阻抗各层是否保持一致 / }7 S5 r: H1 B7 }3 F' b: z
各类BUS 是否已满足(SI 约束)要求
: h0 l& B3 W1 K& v! _6 _E1、以太网、串口等接口信号是否已满足要求 + C9 ^7 y1 M* Q2 ~
时钟线、高速信号线、敏感的信号线不能出现跨越参考平面而形成大的信号回路
; U7 Y* d" t# ~0 [电源、地是否能承载足够的电流(估算方法:外层铜厚1oz 时1A/mm 线宽,内层0.5A/mm 线宽,短线电流加倍) & X g2 y# C/ i% g
芯片上的电源、地引出线从焊盘引出后就近接电源、地平面,线宽≥0.2mm(8mil),尽量做到≥0.25mm(10mil) 7 X9 w9 d' w5 A- ]
电源、地层应无孤岛、通道狭窄现象
- S9 m: T4 ?7 j% u2 zPCB 上的工作地(数字地和模拟地)、保护地、静电防护与屏蔽地的设计是否合理 " w5 x$ M( k3 X& j. }) E
单点接地的位置和连接方式是否合理
# e) d% U. d" V需要接地的金属外壳器件是否正确接地
) h$ O3 t3 c. v) l* C3 q信号线上不应该有锐角和不合理的直角 ' G+ m8 F- l! m) Q4 x! m
间距
5 B6 v6 V1 h7 x& j0 _1 J2 l0 m% ISpacing rule set 要满足最小间距要求 7 l# l: C# w h, b% k3 J
不同的总线之间、干扰信号与敏感信号之间是否尽量执行了3W 原则 ; p" Q- [6 h- z4 Y9 p
差分对之间是否尽量执行了3W 原则 + f/ U: i/ E& k
差分对的线间距要根据差分阻抗计算,并用规则控制 # w0 s1 v b' m# D* Z
非金属化孔内层离线路及铜箔间距应大于0.5mm(20mil),外层0.3mm(12mil)单板起拔扳手轴孔内层离线路及铜箔间距应大于2mm(80mil) # `' C* Y8 `, ?" W9 t' s
铜皮和线到板边 推荐为大于2mm 最小为0.5mm 8 j! D( m* y/ H% m: q
内层地层铜皮到板边 1 ~ 2 mm, 最小为0.5mm
# k, s7 P0 F S* q5 Z3 C9 s内层电源边缘与内层地边缘是否尽量满足了20H 原则
. p w9 O" {, l- P焊盘的出线 6 G8 n! e# X$ m: P# A! I7 b
对采用回流焊的chip 元器件,chip 类的阻容器件应尽量做到对称出线、且与焊盘连接的cline 必须具有一样的宽度。对器件封装大于0805 且线宽小于0.3mm(12mil)可以不加考虑
" p" H, ^/ T2 l9 m对封装≤0805chip 类的SMD, 若与较宽的cline 相连,则中间需要窄的cline 过渡,以防止“立片”缺陷
+ s" b( k6 F8 s/ ]* G8 `2 e线路应尽量从SOIC、PLCC、QFP、SOT 等器件的焊盘的两端引出
8 E) N# i+ [8 ^9 F2 M/ H. a过孔
$ }& _" o5 U4 k* G) }0 y+ N; ?钻孔的过孔孔径不应小于板厚的1/8 : e J- i0 u4 @# S7 h; J( [6 X
过孔的排列不宜太密,避免引起电源、地平面大范围断裂 6 T1 x7 P: r7 G- v/ L/ [
在回流焊面,过孔不能设计在焊盘上。(正常开窗的过孔与焊盘的间距应大于0.5mm (20mil),绿油覆盖的过孔与焊盘的间距应大于0.15 mm (6mil),方法:将Same Net DRC 打开,查DRC,然后关闭Same Net DRC) 1 B/ J- J# T& j* D
禁布区 7 ?" j: m& S& `) u
金属壳体器件和散热器件下,不应有可能引起短路的走线、铜皮和过孔
% A* y+ D7 Q- y) s% ? `安装螺钉或垫圈的周围不应有可能引起短路的走线、铜皮和过孔
3 y, N1 _6 |7 p% M0 d8 V大面积铜箔 " x5 v T: @- ~0 k
若Top、bottom 上的大面积铜箔,如无特殊的需要,应用网格铜[单板用斜网,背板用正交网,线宽0.3mm (12 mil)、间距0.5mm (20mil)] 7 K, Z; p9 W' q ^" p
大面积铜箔区的元件焊盘,应设计成花焊盘,以免虚焊;有电流要求时,则先考虑加宽花焊盘的筋,再考虑全连接
8 Y4 A1 q4 D: A$ A. ?大面积布铜时,应该尽量避免出现没有网络连接的死铜
- z- I) @. s1 ]0 c5 z! Z大面积铜箔还需注意是否有非法连线,未报告的DRC
+ G* c7 X4 v; X% T1 N测试点
7 ]$ ^$ U3 |& M4 I" T J! m& b各种电源、地的测试点是否足够(每2A 电流至少有一个测试点)
4 q; s6 f! E, E# N' c& `# q/ F测试点是否已达最大限度 - b$ F7 X9 L) w1 |' _
Test Via、Test Pin 的间距设置是否足够 $ K, a" u o( K, ?; B5 @- M
Test Via、Test Pin 是否已Fix
d: a) p. Q2 ?DRC ( ]( a' Z" p+ E7 o% |- N; m
更新DRC,查看DRC中是否有不允许的错误 4 I7 X; @3 @) M% W" }' d
Test via 和Test pin 的Spacing Rule 应先设置成推荐的距离,检查DRC,若仍有DRC 存在,再用最小距离设置检查DRC ) \0 ?8 I$ U2 s4 V
光学定位点 4 }2 J& H) a9 [# e" ^* @# \" I
原理图的Mark 点是否足够
1 v# T+ R, e- ^+ Q2 E3 个光学定位点背景需相同,其中心离边≥5mm ' B* r" W0 X4 x3 {9 i
管脚中心距≤0.5 mm 的IC,以及中心距≤0.8 mm(31 mil)的BGA 器件,应在元件对角线附近位置设置光学定位点
- K; _. N/ [6 P2 c5 x- |周围10mm 无布线的孤立光学定位符号应设计为一个内径为3mm 环宽1mm 的保护圈。 + k# U k* I( I$ E' D$ s/ R3 n# E
阻焊检查
L" O2 U. x, V, `* g2 T是否所有类型的焊盘都正确开窗
) b0 K9 }7 O/ n& sBGA 下的过孔是否处理成盖油塞孔
6 s2 [0 {! f( N5 |! H除测试过孔外的过孔是否已做开小窗或盖油塞孔
0 Y9 Y- | D0 n# m/ d2 L. H6 e光学定位点的开窗是否避免了露铜和露线 * T& I( F/ ~% l, b
电源芯片、晶振等需铜皮散热或接地屏蔽的器件,是否有铜皮并正确开窗。由焊锡固定的器件应有绿油阻断焊锡的大面积扩散
- i) B$ Z' s- ]. G丝印 ' S; ?3 Z, L# b1 u4 H2 [1 c8 _
PCB 编码(铜字)是否清晰、准确,位置是否符合要求
0 _: `; v0 i. ~. A% \条码框下面应避免有连线和过孔;PCB 板名和版本位置丝印是否放置,其下是否有未塞的过孔 ( P& @7 X& a) \- V
器件位号是否遗漏,位置是否能正确标识器件 ) O/ a/ w [( j5 t7 S# J
器件位号是否符合公司标准要求
j1 y+ K9 }/ G( q1 K丝印是否压住板面铜字
% j7 r8 J3 V1 t1 z V7 p打开阻焊,检查字符、器件的1 脚标志、极性标志、方向标识是否清晰可辨(同一层字符的方向是否只有两个:向上、向左)
7 V! e0 c* s3 f6 h背板是否正确标识了槽位名、槽位号、端口名称、护套方向
^& W" W9 R! v7 b母板与子板的插板方向标识是否对应 ( O. U7 L# G, }9 K
工艺反馈的问题是否已仔细查对
9 S$ X, S! m; V四、出加工文件
' ` H7 \& C9 n) H9 T3 G+ K' n9 c e R! i/ i Y$ n
孔图 & n2 C, s7 e/ d' H9 ?0 ~$ m5 @2 e
Notes 的PCB 板厚、层数、丝印的颜色、翘曲度,以及其他技术说明是否正确 2 a G" ~7 a! H" z$ G
叠板图的层名、叠板顺序、介质厚度、铜箔厚度是否正确;是否要求作阻抗控制,描述是否准确。叠板图的层名与其光绘文件名是否一致 0 m( P/ W# |8 U, @
将设置表中的Repeat code 关掉
1 K. S* _& ^+ ]: y9 h$ Y; h6 [孔表和钻孔文件是否最新 (改动孔时,必须重新生成) % \# `1 l/ o9 Z$ Q% N8 ~
孔表中是否有异常的孔径,压接件的孔径是否正确 ) t" t3 q c- r7 G# |7 o
要塞孔的过孔是否单独列出,并注“filled vias” ) @' P) a! p5 M% j+ V* c2 V1 o
光绘 ! l8 d% g# M4 y6 N
要塞孔的过孔是否单独列出,并注“filled vias”
3 k: d7 K7 S- @( j7 y" V5 b1 W: ~& c+ q; w. |art_aper.txt 是否已最新(仅限Geber600/400) - {5 B1 A/ Q3 k( ^; ~3 }
输出光绘文件的log 文件中是否有异常报告 ! W; W5 |1 [2 t5 t* z
负片层的边缘及孤岛确认
& g$ U' X: Z5 \+ `; H, k$ z+ h( }使用 CAM350 检查光绘文件是否与PCB 相符
( v w/ S: o# G& z* w出坐标文件时,确认选择 Body center。(只有在确认所有SMD 器件库的原点是器件中心时,才可选Symbol origin) ( n, m, c5 I6 T0 o. x
确定Gerb文件齐全:圆形孔钻孔文件(*.drl)、不规则孔钻孔文件(*.rou)、光绘文件(*.art)、坐标文件,生成文件时间必须比PCB文件(*.brd)晚。 # I9 G+ Y* v# D9 L( J2 {( _
五、文件齐套
$ L! p6 k) K7 k, M: \
1 R+ L6 g/ ^- N D4 hPCB 文件:产品型号规格-单板名称-版本号.brd / [9 ?) `8 M' R
PCB 加工文件:PCB 编码.zip(含各层的光绘文件、光圈表、钻孔文件及nctape.log) , w5 \3 N8 M5 L/ [% K7 }7 u
SMT 坐标文件:产品型号规格-单板名称-版本号-SMT.txt
2 [+ N& ^: f( h" y4 V) \: L测试文件:testprep.log 和 untest.lst
# y9 o9 m0 Q) ?4 p! d: S! K[1-4]总包文件名:产品型号规格-单板名称-版本号-PCB.zip 5 l7 P4 u. a2 c" `; x3 F, Q5 R
, Z8 A" v$ C( q$ t
( J) F& }5 A2 G4 y
器件间距要求" h' u" r+ w& H1 i9 f
- E: u' U/ ^' ~ f0 E3 D3 L2 c
PLCC、QFP、SOP 各自之间和相互之间间隙≥2.5 mm(100 mil)
5 h9 H7 t0 b8 k; R, h! BPLCC、QFP、SOP 与Chip 、SOT 之间间隙≥1.5 mm(60 mil) " q8 y9 n0 j: i, u
回流焊:Chip、SOT 各自之间和相互之间的间隙可以小至0.3mm(12mil)。: `1 v4 o5 T1 h; u0 w" Z
波峰焊:Chip、SOT 相互之间的间隙≥0.8 mm(32 mil)和1.2 mm(47 mil),1 w8 V- I6 \7 B. l
钽电容在前面时,间隙应≥2.5 mm(100 mil)。
. u7 D! C- w( h# ^
( U5 J1 z6 }; w. y6 M6 v' o7 wBGA 外形与其他元器件的间隙≥5 mm(200 mil)。
, o0 A& \9 I% OPLCC 表面贴转接插座与其他元器件的间隙≥3 mm(120 mil)。
- D6 P9 Z. z* ^! J( r# O8 S, x0 [) J表面贴片连接器与连接器之间应该确保能够检查和返修。一般连接器引线侧应该留有比连接器高度大的空间。
" _! L. h8 e7 e( Z" E g, V" _元件到喷锡铜带(屏蔽罩焊接用)应该2mm(80mil)以上。 0 T. C, z0 X- n" @2 A l6 S
元件到拼板分离边需大于1mm(40mil)以上。 - m% `5 ] T8 A; @ r' e
如果B 面(焊接面)上贴片元件很多、很密、很小,而插件焊点又不多,建议插件引脚离开贴片元件焊盘5mm 以上,以便可以采用掩模夹具进行局部波峰焊。
* V: w+ V2 I9 w; Y6 T注:其中间隙一般指不同元器件焊盘间的间隙,器件体大于焊盘时,指器件体的间隙)1 h& H/ O- D- ?
* f0 X( K* [4 T8 r( Q
/ Z6 U4 c) b2 E. [9 U1 o; n- B
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