TA的每日心情 | 无聊 2022-12-27 15:01 |
---|
签到天数: 18 天 [LV.4]偶尔看看III
|
EDA365欢迎您登录!
您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册
x
1、减小电源和地路径的回路电感;6 j5 V6 p$ [$ [3 K8 S
2、使电源平面和地平面相邻并尽量靠近;4 A" a& m/ T' `( l3 {6 J6 Y# {
3、在平面间使用介电常数尽量高的介质材料使平面间的阻抗最低;
. q. e% g; H/ A: s9 |) v; r4、尽量使用多个成对的电源平面和地平面;
, h4 O: k3 e0 J" I5、使同向电流相隔尽量远,而反向电流间隔尽量近;" @" T1 ~6 O& ~: @% a0 ^
6、在实际中,使电源过孔与地平面过孔尽量靠近。要使它们的间隔至少与过孔的长度相当;1 q J/ n! W' X9 E' g
7、应将电源平面与地平面尽可能靠近去耦电容所在的表面处; K2 z* E4 A, R3 G6 _& G
8、对相同的电源或地焊盘使用多个过孔,但要使过孔间距尽量远;
: C7 V5 y) h9 s, p) t o/ c9、在电源平面或地平面上布线时,应是过孔的直径尽量大;9 j& D9 t0 H. p( c
10、在电源焊盘和地焊盘上使用双键合线可以减小键合线的回路电感;7 [+ y. V9 V! j7 J/ R# r
11、从芯片内引出尽可能多的电源和地引线;6 P& b) [8 w/ u% w; m; D
12、在芯片封装时引出尽可能多的电源和地引脚;
2 u: l0 d' l' x. ^1 p13、使用尽可能短的片间互连方法,例如倒装芯片而不是键合线;6 }2 b2 h d D q
14、封装的引线应尽量短,例如应使用CSP封装而不是QFP封装;4 e: d. v+ \1 e: k# w
16、使去耦电容焊盘间的布线和过孔尽可能短而宽;8 A( K" |, w1 C( ?6 {
17、在低频时使用一定量的去耦电容来代替稳压器件;+ B1 i& P, [8 c8 B4 s
18、在高频时使用一定量的去耦电容来抵消等效电感;
5 b% U0 F. M( x19、使用尽可能小的去耦电容,并尽量减小电容焊盘上与电源和地平面相连的互连线的长度;+ R( I; L9 l8 W) S4 ]4 \3 e% }: |# Y
20、在片内使用尽量大的去耦电容;
" ^7 z! v5 B8 }3 y. x21、在封装中应使用尽可能多的低电感去耦电容;/ E2 j( z, m1 Z# o; s
22、在I/O接口设计中使用差分对; |
|