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摘要:单片机抗干扰性能是单片机应用系统可靠性的重要指标 , 本文针对单片机应用系统中的干扰因素 , 结合工) C5 \$ t. ~/ O ~3 R- B. r, ]
作实际阐述了采取硬件、软件两种方法抗干扰的具体措施 -
% u p2 ^8 s2 K% J关键词 :单片机 . 硬件 . 软件 . 抗干扰: v! M9 M2 B8 ?7 @8 \4 ?) i
# p$ t1 ~' o. ? w引 言
, v2 I, `* G B* G2 }* j$ f# M随着单片机在工业控制领域中的应用越来越广泛 , 对
/ J# Y6 z* ~* ^- n* ]7 |$ m其可靠性的要求也越来越高 - 单片机系统的可靠性是由多
7 n1 T; }& C2 l ~, V7 ~5 ]5 f种因素决定的 , 其中系统抗干扰性能是可靠性的重要指标
7 i2 e, B/ M& F" T' `9 i之一 。
( W: f) Z3 p& w) m3 V5 B7 ?工业环境中的干扰一般是以脉冲形式进入单片机系统* T: Z2 \! s! _
的 , 其渠道主要有三条 !
3 g7 \( M! m) K! y- @(1) 空间干扰(场干扰):电磁信号通过空间辐射进入) z0 ?! Q# N! N6 {8 s5 k2 q
系统 。
! s% `; {1 A5 ?(2)过程通道干扰 :干扰通过与系统相连的前向通道 3
6 G& W) t+ `7 ~+ y; G( a6 j后向通道及与其它系统的相互通道进入系统 。
3 n$ P& J1 P/ W3 y5 |(3)供电系统干扰:电源的干扰或电磁信号通过供电% C# t5 j1 |- d% I- R" y( j
线路进入系统 。1 @& g9 A: h7 h
因此 , 在进行单片机测控系统的设计时 , 必须针对干扰) O0 g% v( K, Z( T: z
形成的原因 , 采取一定的抗干扰措施 。总的来说 , 抗干扰措- l7 t. k& {2 s9 E/ p
施有硬件措施和软件措施。硬件如果设计得当 , 可将绝大* ~' O6 ^: p7 M
部分干扰拒之门外 , 但仍然会有少数干扰进入单片机系统 ,7 I' B8 L; Q6 L% w* o/ g9 z
所以软件措施作为抗干扰的第二道防线必不可少。由于软
7 y0 a' q( d9 {7 t, y3 r- ^1 r件抗干扰措施是以占用CPU为代价的 , 如果没有硬件消除) P" n8 l# h s$ s
绝大多数干扰 ,CPU将疲于奔命 , 严重影响系统的工作效# [3 y, K9 l" T: P
率和实时性。* R. A7 ~3 j4 {: a% L3 [
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1 V3 g; Z1 s; m `3 F7 B' N* d! ]1 Q' }" {0 i# Q
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