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兵马未动,粮草先行。
' F- U$ H% i3 p. Z1 g2 o. O先从时序分析的一些概念入手。8 ~8 X& i5 L2 p3 b3 p- x" u; l# u
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tco
^, J. P$ ?' z2 A0 [! r+ o) b----clock to output delay
$ B8 m+ a- P+ z0 V7 e* L8 s2 ]* a* ]指时钟触发开始到有效数据输出的器件内部所有延时的总和。Tco 包含缓冲延时buffer delay和逻辑延时logic delay。" T4 i4 v8 M' u' g: L, F
这是个及其重要然而又被许多人错误理解的问题。6 E2 N/ F) h4 r3 X
' W& ]' N, V! d9 tlogic delay
5 n! A+ _: q% \2 R# sA、B点间的delay就是logic delay,从输入端(A点)的时钟触发到输出缓冲器(B)触发的时间间隔。
3 j1 k5 i8 ~" E" glogic delay是由IC本身决定的,其延时信息厂家是以SDF(static delay file)文件提供的,在design的那一刻就被工艺参数和电气所决定
6 @' _$ }' W0 F1 v/ A# g$ O8 wbuffer delay, ~" i. D5 {; X3 j! l
B、C点间的delay是buffer delay,是指信号经过缓冲器达到有效的电压输出所需要的时间,从下图看即为从B点buffer开关的时间t=0点开始,到C点电压达到Vmeas的时间。
* J2 ^: t# v; q& L5 o5 ^2 {! a5 Ybuffer delay是和load情况密切相关的,这里看到的是一个50ohm的测试负载,这仅仅是一个例子,不同的芯片其测试条件一般是不同的
* j9 Y6 q0 e/ E, E - n* \3 ^) Z, V
许多人误认为Tco就是buffer delay,这种理解是极其错误的。7 { _, p n# b: Q( X
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2 y/ I- j# d3 A( M2 h# W1.负载特性决定了buffer delay的不同(variant due to different load)0 ]5 X* }5 ^; o8 l. ]# g
2.IC design决定了logic delay的确定(constant)
/ e7 J/ M3 a+ t: Q / V2 E' a& g8 ]8 s
& M0 u n' `! y: T8 d1 l由tco = logic delay + buffer delay 可得,Tco的数值也会随着load情况而变化
7 q6 ?* s: x, t6 `# v- o可我们在datasheet中的tco又是如何得来的呢,这就要讲到AC test condtion的问题,进而讲到修正,Vmeas等等+ F2 k7 R/ [5 @! h& J+ c
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欲知后事,请听下回分解 |
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