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lionmon · 发表于 2011-5-21 11:12

感谢楼主的分析！！！！！

wisedong · 发表于 2011-5-22 13:21

好好学习

niba · 发表于 2011-5-23 10:09

顶一下。观看回复可见

henry201 · 发表于 2011-5-24 09:47

太好啦，学习过！

hpyang · 发表于 2011-6-9 14:35

太好了，

yuxuan51 · 发表于 2011-6-10 19:18

谢谢LZ，好东西学习了

花心刺猬 · 发表于 2011-6-11 12:51

学些了，谢谢！

blue_fisher · 发表于 2011-6-16 15:34

很有用的知识，慢慢学习中

joan2003 · 发表于 2011-6-17 10:04

牛！我正想学习！

lyk07351 · 发表于 2011-7-2 14:48

本帖最后由 lyk07351 于 2011-7-2 15:52 编辑

看来是真忙了，到现在了都没有继续，等待中……

loveb771 · 发表于 2011-7-21 11:10

学习。。。

noisyroad · 发表于 2011-7-24 17:29

有点意思

alienware · 发表于 2011-7-24 22:38

Vmeas and test load descirption
- j2 t3 E' X  \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load
8 [3 E0 W) ^0 r: q2008-4-29 08:45 上传
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. L; E6 d# N  ]1 D: L5 o% n; K5 a1 a
% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b  I
举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
2008-4-29 08:45 上传
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9 ~) M+ }: p& W" \% H" [  L* w& }- V# s% Z  N0 A- Z
这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I  v# M! H+ m( R3 x: K
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D

lbbbear · 发表于 2011-8-1 23:43

学习了

farhill · 发表于 2011-8-11 01:04

thanks.

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