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PoP(Packaging on Packaging),即堆叠组装,又称为叠层封装。POP采用两个或两个以上的BGA(球栅阵列封装)堆叠而成的一种封装方式。一般POP叠层封装结构采用了BGA焊球结构,将高密度的数字或或混合信号逻辑器件集成在POP封装的底部,满足了逻辑器件多引脚的特点。PoP作为一种新型的高集成的封装形式,主要应用在现代的智能手机、数码相机等便携式电子产品中,作用非常广泛。
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3 R0 c: `8 r9 ] Q堆叠封装是一种以较高集成度实现微型化的良好方式。在堆叠封装中,封装外封装(PoP)对封装行业越来越重要,特别是手机方面的应用,因为这种技术可堆叠高密度的逻辑单元。PoP产品有两个封装,一个封装在另一个BGA封装的上方,用焊球将两个封装结合。这种封装将逻辑及存贮器元件分别集成在不同的封装内,逻辑+存储通常为2~4层,存储型PoP可达8层。一般手机就采用PoP封装来集成应用处理器与存贮器。
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5 [( t3 `7 R% n
! Z$ I7 H+ k6 |) s W/ \POP封装的优点:2 [, V/ D0 E; r3 h
1、存储器件和逻辑器件可以单独地进行测试或替换,保障了良品率;
. @% s- H; Z% q: r2、双层POP封装节省了基板面积, 更大的纵向空间允许更多层的封装;2 G: ~/ M, }+ E$ G
3、可以沿PCB的纵向将Dram,DdramSram,Flash,和 微处理器进行混合装联;5 C G- Y3 O7 N; v( ^* ]1 ]
4、对于不同厂家的芯片, 提供了设计灵活性,可以简单地混合装联在一起以满足客户的需求,降低了设计的复杂性和成本;
& ]) M: P$ j, C9 W2 N5、目前该技术可以取得在垂直方向进行层芯片外部叠加装联;1 Z r% {+ {% ?9 Z2 }
6、顶底层器件叠层组装的电器连接,实现了更快的数据传输速率,可以应对逻辑器件和存储器件之间的高速互联。
8 F1 W/ F. b" c) R( P. }( z, MPoP封装的局限性:0 R, M0 J% l6 B4 \$ P! @
1、 PoP的外形高度较高;) g5 i; i8 Y+ W# A) j/ K
2、 PoP需要一定的堆叠工艺;
' P; M" f3 e: p e' ^0 P/ b, Y3、 由于多层结构,所以加大了使用X射线检测各层焊点的难度。
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. x3 B# L8 z- [- F, C% s& E, kPOP的工艺流程1 L$ P& c1 g" Y4 j7 v" ?6 V- _
PoP的组装方式目前有两种。一种是预制PoP工序,即先将PoP的多层封装堆叠到一起,焊接成一个元器件,再贴装到PCB上,最后再进行一次回流焊。一种是在板PoP工序上,依次将底部的BGA和顶部BGA封装在PCB上,然后过一次回流焊。
5 u. M: b* G. A8 _1 l" ?2 m在板PoP的典型工艺流程为:8 _; D4 Z6 l9 T- W- A
1、 在PCB焊盘上印刷焊膏;# S' h$ ~ T9 p! U; C7 a9 k$ x
2、 拾取底部封装器件;8 m5 m' h# V, I
3、 贴装底部封装器件;* I$ W8 m7 ?7 O4 p$ ^) E6 s
4、 顶部封装器件涂上助焊剂或焊膏;
! B6 t6 A2 n" t0 z9 @5、 在底部封装器件傻瓜贴装顶部封装器件;: M1 i& @ R( J5 n$ K o- Z
6、 回流焊;
) j% ^6 b# r" T% P2 P: ^$ x; P7、 X-射线检测;
7 D; O5 \& @ f k' b" f. |& N8、 有不良的使用BGA返修台进行返修,无不良则进行底部填充并固化。
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