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本帖最后由 Heaven_1 于 2022-5-30 14:24 编辑 % d* F: O1 }. F# r
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CoWoS-R是CoWoS advanced packaging家族的一员,利用信息技术利用RDL插入器并服务于芯片之间的互连,尤其是在HBM(高带宽内存)和SoC异构集成中。RDL插入器由聚合物和铜痕迹组成,具有相对的机械灵活性。这种灵活性增强了C4接头的完整性,并允许新组件扩大其尺寸,以满足更复杂的功能需求。
: O+ }4 u2 G1 H/ OThe key features of CoWoS-R technology include: - E& x s2 O+ Q# @& Q9 ~
- The RDL interposer consists of up to 6L Cu layers for routing with min. of 4um pitch(2um line width/spacing).
- The RDL interconnect offers good signal and power integrity peRFormance with lower RC value of the routing line to achieve a high transmission data rate. The coplanar GSGSG and interlayer ground shielding with six RDL interconnections offer superior electrical performance.
- RDL layer and C4/UF layers provide good buffer effect due to the CTE mismatch between SoC and the corresponding substrate. The strain energy density is greatly reduced in C4 bump.0 Z) Q" o. ^, G9 w) c$ `. q
CoWoS-R技术的主要特点包括: 1.RDL插入器由最多6L铜层组成,用于布线,最小间距为4um(线宽/间距为2um)。 2.RDL互连提供了良好的信号和电源完整性性能,路由线的RC值较低,以实现高传输数据速率。带有六个RDL互连的共面GSG和层间接地屏蔽提供了优异的电气性能。 3.由于SoC和相应基板之间的CTE不匹配,RDL层和C4/UF层提供了良好的缓冲效果。在C4凸起中,应变能密度大大降低。
Q8 x9 k# }. }6 TCoWoS®-L是CoWoS®平台中最后的芯片封装之一,它结合了CoWoS®-S和信息技术的优点,使用插入器与LSI(本地硅互连)芯片进行芯片间互连,并使用RDL层进行电源和信号传输,从而提供最灵活的集成。该产品从1.5X十字线插入器尺寸和1x SoC+4x HBM立方体开始,并将进一步扩展到更大尺寸的封套,以集成更多芯片。 CoWoS®-L服务的主要功能包括: 1.用于通过多层亚微米铜线实现高布线密度芯片间互连的LSI芯片。LSI芯片可以在每个产品中具有多种连接架构(例如,SoC到SoC、SoC到芯片组、SoC到HBM等),也可以重复用于多个产品。相应的金属类型、层数和间距与CoWoS®-S的产品一致。 2.基于模压的插入器,在正面和背面都有宽间距的RDL层,用于信号和功率传输的TIV(通过插入器通孔)在高速传输中提供低损耗的高频信号。 3.在SoC芯片正下方集成额外元件的能力,例如独立IPD(集成无源器件),以更好的PI/SI支持其信号通信。 InFO是一个创新的晶圆级系统集成技术平台,具有高密度RDL(再分布层)和TIV(通过InFO-Via)功能,用于高密度互连和各种应用的性能,如移动、高性能计算等。。InFO平台提供各种二维和三维包装方案,针对特定应用进行了优化。 ) ?, U( D8 `1 u+ b
InFO_PoP, 是业界第一款3D晶圆级扇出封装,采用高密度RDL和TIV集成移动AP和DRAM封装堆叠,用于移动应用。与FC_PoP相比,InFO_PoP由于没有有机衬底和C4凸起,具有更薄的外形和更好的电气和热性能。
* D, d! G8 U# B7 T除了插入器尺寸增加外,CoWoS-S5还包含了一些新功能。首先,开发了5个新的低RC金属层,以在毫米距离上提供更好的芯片间串扰信号完整性。其次,TSV升级后具有最佳的高速SerDes性能。第三,用于增强电源完整性的集成深沟电容器(iCap)集成在这个超大型3x插入器上。第四,CoWoS-S5中集成的新型热界面材料(TIM)增强了封装的热阻。TIM的导热系数高于20W/K,并表现出良好的热稳定性。结合上述特征的CoWoS-S5机械试验车(mTV)制造用于工艺/包装验证,如图3所示,并通过了JEDEC标准部件级可靠性试验,结果证明了CoWoS-S5的潜力和稳健性。 7 S3 [! J) N# y8 t, D
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在SoC与HBM的互连中,互连线的寄生电阻和寄生电容是制约器件性能的瓶颈。与旧的叠层金属结构相比,新的叠层金属结构具有更厚的金属厚度和更高的介电厚度,能够解决这一问题。
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