元器件选型 之 安规电容篇

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                    读者可能会奇怪，为啥选型还不把所有电容都列进去，而只把安规电容单独列出呢？这是有原因的，因为电容太复杂，种类太多，其失效机理和关注的参数因用途、工艺特点的不同而有很大差异。所以，做个细分是很必要的。

安规电容有个最典型的失效机理是低压失效。从安规的角度来讲，都喜欢把余量留得大一点，这样即使设计上有点缺陷，也不会器件故障，窃以为！恰恰相反，殊不知，物极必反，哲学规律在此得到充分体现。

低压失效的典型症状：1实际应用电压远低于电容的额定耐压值，一般在额定值的10%以下；2湿热实验或潮湿预处理后电容会失效；3从湿热实验和潮湿预处理后，进行高热实验或电路板烘烤，电容会恢复正常；4或者将失效电容从电路板上拆下，两端加较高点压，额定值的60%-75%左右，电容的性能会恢复正常。
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7 Y4 j% [5 ^: \7 N 如果您用到的电容遇到了类似现象，基本上可以初步确诊为低压失效的可能了。那原因何在？
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, F9 A8 @$ b: G9 |, B8 N3 E 电容的两个极片中间有介质，然后被壳体将电容极片、介质进行封装，事实上，封装的壳体不会100%的致密，就给潮气渗入提供了可能。举例，耐压在50V的安规电容，潮气渗入了，在电容两端加5V电压的时候，附着在介质上的潮气就成了一个漏电流通道，但因为电压低，这个漏电流并不很大，通路阻抗上产生的热量也并不大，不足以将水汽加热蒸发掉，但破坏电容的储能特性是足够了。于是，电容失效了。

5 N# w+ ]$ t) y$ h, R! k2 _3 }; X 后面，高温实验就好理解了，高温下水汽蒸发，漏电流通道不复存在，电容恢复正常；如果加高压，导通阻抗仍维持不变，随着电压的升高，漏电流势必增大，增大的漏电流在导通阻抗上就会产生较大的热量I2R，这个热量也会导致潮气蒸发，结果也是电容漏电流逐渐变小，直至恢复储能功能。

8 ?) |5 D$ [$ ~  因此安规电容选型的耐压指标绝对不能余量留得太大，这是选型时容易出现问题的一个关键点。至于其他指标，比较常规，就不罗嗦了。
               
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安规电容是指电容器失效后，不会导致电击，不危及人身安全的安全电容器。简单理解就是失效后不会形成短路

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安规电容分为X电容， Y电容。
交流电源输入分为3 个端子：火线L/零线N/地线PE，（L=Line，N=Neutral， PE=Protective Earthing）。
% y# G* V$ J2 f跨于“L-N”之间，即“火线-零线”之间的是X 电容；
跨于“L-PE/N-PE”之间，即“火线-地线 或 零线-地线”之间的是Y 电容。